Nghiên cứu chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram cho thuốc vi sai an toàn - Đại học Quốc gia Hà Nội

Luận văn thạc sĩ phân tích xác định một số chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram dùng cho thuốc vi sai an toàn bằng phương pháp, đánh giá thực trạng, chỉ ra hạn chế, đề xuất giải

Trường đại học

Đại học Quốc gia Hà Nội

Chuyên ngành

Hóa Phân Tích

Người đăng

Ẩn danh

Thể loại

Luận Văn Thạc Sỹ

2013

82
1
0

Phí lưu trữ

30 Point

Mục lục chi tiết

LỜI NÓI ĐẦU

1. CHƯƠNG 1: TỔNG QUAN

1.1. Giới thiệu sơ lược về kim loại Vonfram bột dùng cho chế tạo thuốc cháy chậm vi sai an toàn

1.2. Sơ lược về kim loại Vonfram (W)

1.3. Tính chất vật lý, hóa học, ứng dụng và công nghệ sản xuất kim loại Vonfram bột

1.4. Ứng dụng của kim loại W và các hợp chất của nó

1.5. Công nghệ chế tạo Vonfram bột

1.6. Đặc điểm của các nguyên tố vi lượng trong bột W (As, Bi, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Mn, Pb, Sb, Mo)

1.6.1. Tính chất lý, hóa học

1.6.2. Sự tồn tại của các nguyên tố vi lượng có trong bột W trong thiên nhiên

1.7. Các phương pháp xác định các nguyên tố vi lượng trong bột W

1.7.1. Phương pháp phân tích trọng lượng

1.7.2. Phương pháp thể tích

1.7.3. Các phương pháp phân tích điện hóa

1.7.4. Phương pháp sắc ký - Kỹ thuật phân tích sắc ký lỏng hiệu năng cao (HPLC) xác định đồng thời

1.7.5. Các phương pháp phân tích quang

2. CHƯƠNG 2: THỰC NGHIỆM

2.1. Mục tiêu và nội dung nghiên cứu

2.1.1. Mục tiêu nghiên cứu

2.1.2. Nội dung nghiên cứu

2.2. Phương pháp phân tích phổ Plasma cảm ứng cao tần (ICP-MS)

2.2.1. Đặc điểm của phương pháp phân tích bằng ICP-MS

2.2.2. Bản chất của phổ ICP-MS

2.2.3. Nguyên tắc và sự xuất hiện phổ khối ICP-MS

2.2.4. Hệ trang bị của phép đo ICP-MS

2.2.5. Trang thiết bị, dụng cụ và hóa chất dùng trong nghiên cứu

3. CHƯƠNG 3: KẾT QUẢ THỰC NGHIỆM VÀ THẢO LUẬN

3.1. Khảo sát và chọn các thông số đo phổ ICP-MS (tối ưu theo các nguyên tố cần xác định)

3.2. Chọn các đồng vị phân tích (số khối, tỉ lệ đồng vị, phương trình hiệu chỉnh đối với các nguyên tố)

3.3. Khảo sát và chọn các điều kiện thực nghiệm đo phổ của 12 ion kim loại tạp chất trong W

3.4. Nghiên cứu ảnh hưởng của nền Vonfram đến phép xác định

3.5. Xác định khoảng tuyến tính và xây dựng đường chuẩn, giới hạn phát hiện, giới hạn định lượng

3.5.1. Khoảng tuyến tính của phép đo ICP-MS

3.5.2. Xây dựng đường chuẩn các nguyên tố

3.6. Khảo sát sai số và độ lặp lại của phép đo

3.7. Phân tích mẫu bột Vonfram của một số nước đang sản xuất

3.7.1. Quy trình phá mẫu

3.7.2. Đánh giá hiệu suất thu hồi theo hai quy trình phá mẫu W

3.7.3. Quy trình phân tích mẫu W bằng phương pháp ICP-MS

TÀI LIỆU THAM KHẢO

Tóm tắt

I. Tổng quan về chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram an toàn

Bột vonfram là một trong những vật liệu quan trọng trong ngành công nghiệp hiện đại, đặc biệt là trong sản xuất thuốc vi sai an toàn. Việc xác định các chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram không chỉ giúp đảm bảo chất lượng sản phẩm mà còn bảo vệ sức khỏe con người và môi trường. Các chỉ tiêu này bao gồm hàm lượng các nguyên tố vi lượng như As, Bi, Cd, và nhiều nguyên tố khác. Việc phân tích chính xác các chỉ tiêu này là rất cần thiết để đáp ứng các tiêu chuẩn an toàn trong công nghiệp.

1.1. Đặc điểm của bột vonfram và ứng dụng trong công nghiệp

Bột vonfram (W) có tính chất vật lý và hóa học đặc biệt, với nhiệt độ nóng chảy cao và độ bền cơ học tốt. Nó được sử dụng rộng rãi trong sản xuất các loại thuốc cháy chậm, đặc biệt là trong môi trường khai thác hầm lò. Việc sử dụng bột vonfram giúp tăng cường độ an toàn và hiệu quả trong các ứng dụng công nghiệp.

1.2. Tầm quan trọng của việc xác định chỉ tiêu lượng vết

Việc xác định chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram là rất quan trọng để đảm bảo rằng sản phẩm đáp ứng các tiêu chuẩn an toàn. Các nguyên tố vi lượng có thể gây ra những tác động tiêu cực đến sức khỏe con người và môi trường. Do đó, việc phân tích và kiểm soát các chỉ tiêu này là cần thiết để bảo vệ sức khỏe cộng đồng.

II. Vấn đề và thách thức trong phân tích chỉ tiêu lượng vết

Mặc dù có nhiều phương pháp phân tích hiện đại, nhưng việc xác định chính xác các chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram vẫn gặp nhiều thách thức. Các phương pháp truyền thống thường không đủ nhạy để phát hiện các hàm lượng nhỏ của các nguyên tố vi lượng. Điều này dẫn đến việc khó khăn trong việc đảm bảo chất lượng sản phẩm và tuân thủ các tiêu chuẩn an toàn.

2.1. Những khó khăn trong việc phát hiện nguyên tố vi lượng

Nhiều phương pháp phân tích hiện tại không thể phát hiện được các nguyên tố vi lượng với hàm lượng thấp. Điều này có thể dẫn đến việc sản phẩm không đạt tiêu chuẩn an toàn, gây nguy hiểm cho người sử dụng và môi trường.

2.2. Tác động của các nguyên tố vi lượng đến sức khỏe

Các nguyên tố vi lượng như As, Cd, và Pb có thể gây ra những tác động nghiêm trọng đến sức khỏe con người. Việc không kiểm soát được hàm lượng của chúng trong bột vonfram có thể dẫn đến những rủi ro lớn trong quá trình sử dụng sản phẩm.

III. Phương pháp phân tích chỉ tiêu lượng vết hiệu quả

Để đảm bảo chất lượng bột vonfram, việc áp dụng các phương pháp phân tích hiện đại như ICP-MS là rất cần thiết. Phương pháp này cho phép phát hiện và định lượng chính xác các nguyên tố vi lượng với độ nhạy cao. Việc sử dụng ICP-MS giúp cải thiện độ chính xác và độ tin cậy trong phân tích.

3.1. Nguyên lý hoạt động của phương pháp ICP MS

ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry) là một phương pháp phân tích mạnh mẽ, cho phép xác định các nguyên tố vi lượng với độ nhạy cao. Nguyên lý hoạt động của nó dựa trên việc ion hóa mẫu trong plasma và phân tích các ion bằng khối phổ.

3.2. Lợi ích của việc sử dụng ICP MS trong phân tích

Việc sử dụng ICP-MS mang lại nhiều lợi ích, bao gồm khả năng phát hiện các nguyên tố vi lượng ở nồng độ rất thấp, độ chính xác cao và thời gian phân tích ngắn. Điều này giúp cải thiện quy trình sản xuất và đảm bảo chất lượng sản phẩm.

IV. Ứng dụng thực tiễn và kết quả nghiên cứu

Nghiên cứu về chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram đã cho thấy nhiều kết quả khả quan. Việc áp dụng các phương pháp phân tích hiện đại đã giúp phát hiện và kiểm soát các nguyên tố vi lượng một cách hiệu quả. Các kết quả này không chỉ giúp nâng cao chất lượng sản phẩm mà còn đảm bảo an toàn cho người sử dụng.

4.1. Kết quả phân tích mẫu bột vonfram

Các mẫu bột vonfram được phân tích cho thấy hàm lượng các nguyên tố vi lượng nằm trong giới hạn cho phép theo tiêu chuẩn an toàn. Điều này chứng tỏ rằng quy trình sản xuất đã được kiểm soát chặt chẽ và đáp ứng yêu cầu chất lượng.

4.2. Ứng dụng trong sản xuất thuốc vi sai an toàn

Kết quả nghiên cứu đã được ứng dụng trong sản xuất thuốc vi sai an toàn, giúp nâng cao hiệu quả và độ an toàn trong các ứng dụng công nghiệp. Việc kiểm soát chất lượng bột vonfram đã góp phần quan trọng vào sự phát triển bền vững của ngành công nghiệp.

V. Kết luận và tương lai của nghiên cứu

Nghiên cứu về chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram an toàn là một lĩnh vực quan trọng và cần thiết trong ngành công nghiệp hiện đại. Việc áp dụng các phương pháp phân tích hiện đại như ICP-MS đã mở ra nhiều cơ hội mới cho việc kiểm soát chất lượng sản phẩm. Tương lai của nghiên cứu này hứa hẹn sẽ mang lại nhiều tiến bộ trong việc đảm bảo an toàn và chất lượng sản phẩm.

5.1. Tương lai của công nghệ phân tích

Công nghệ phân tích sẽ tiếp tục phát triển, với nhiều phương pháp mới được nghiên cứu và áp dụng. Điều này sẽ giúp nâng cao độ chính xác và hiệu quả trong việc xác định các chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram.

5.2. Định hướng nghiên cứu tiếp theo

Các nghiên cứu tiếp theo sẽ tập trung vào việc cải thiện quy trình sản xuất và kiểm soát chất lượng bột vonfram, nhằm đáp ứng tốt hơn nhu cầu của thị trường và đảm bảo an toàn cho người sử dụng.

16/08/2025
Luận văn thạc sĩ xác định một số chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram dùng cho thuốc vi sai an toàn bằng phương pháp icp ms

Trích đoạn nội dung tài liệu

ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN ------------------ HOÀNG TRỌNG KHIÊM XÁC ĐỊNH MỘT SỐ CHỈ TIÊU LƢỢNG VẾT TRONG BỘT VONFRAM DÙNG CHO THUỐC VI SAI AN TOÀN BẰNG PHƢƠNG PHÁP ICP-MS LUẬN VĂN THẠC SỸ KHOA HỌC HÀ NỘI - 2013 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN ---------------------- HOÀNG TRỌNG KHIÊM XÁC ĐỊNH MỘT SỐ CHỈ TIÊU LƢỢNG VẾT TRONG BỘT VONFRAM DÙNG CHO THUỐC VI SAI AN TOÀN BẰNG PHƢƠNG PHÁP ICP-MS Chuyên ngành: Hoá Phân tích Mã số: 60.29 LUẬN VĂN THẠC SỸ KHOA HỌC Ngƣời hƣớng dẫn khoa học: TS PHẠM THỊ NGỌC MAI HÀ NỘI - 2013 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com MỤC LỤC DANH MỤC CÁC KÝ HIỆU VIẾT TẮT SỬ DỤNG TRONG LUẬN VĂN. DANH MỤC CÁC BẢNG. DANH MỤC CÁC HÌNH .1 CHƢƠNG 1: TỔNG QUAN. Giới thiệu sơ lƣợc về kim loại Vonfram bột dùng cho chế tạo thuốc cháy chậm vi sai an toàn.

Sơ lƣợc về kim loại Vonfram (W). Tính chất vật lý, hóa học, ứng dụng và công nghệ sản xuất kim loại Vonfram bột. Ứng dụng của kim loại W và các hợp chất của nó. Công nghệ chế tạo Vonfram bột.

Đặc điểm của các nguyên tố vi lƣợng trong bột W (As, Bi, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Mn, Pb, Sb, Mo). Tính chất lý, hóa học. Sự tồn tại của các nguyên tố vi lƣợng có trong bột W trong thiên nhiên 11 1. Các phƣơng pháp xác định các nguyên tố vi lƣợng trong bột W.

Phƣơng pháp phân tích trọng lƣợng [4, 6]. Phƣơng pháp thể tích. Các phƣơng pháp phân tích điện hoá. Phƣơng pháp sắc ký - Kĩ thuật phân tích sắc kí lỏng hiệu năng cao (HPLC) xác định đồng thời.

Các phƣơng pháp phân tích quang .17 CHƢƠNG 2: THỰC NGHIỆM. Mục tiêu và nội dung nghiên cứu. Mục tiêu nghiên cứu. Nội dung nghiên cứu.

Phƣơng pháp phân tích phổ Plasma cảm ứng cao tần (ICP-MS) .25 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail. Đặc điểm của phƣơng pháp phân tích bằng ICP-MS. Bản chất của phổ ICP-MS. Nguyên tắc và sự xuất hiện phổ khối ICP-MS.

Hệ trang bị của phép đo ICP-MS. Trang thiết bị, dụng cụ và hóa chất dùng trong nghiên cứu .34 CHƢƠNG 3: KẾT QUẢ THỰC NGHIỆM VÀ THẢO LUẬN. Khảo sát và chọn các thông số đo phổ ICP-MS (tối ƣu theo các nguyên tố cần xác định). Chọn các đồng vị phân tích (số khối, tỉ lệ đồng vị, phƣơng trình hiệu chỉnh đối với các nguyên tố).

Khảo sát và chọn các điều kiện thực nghiệm đo phổ của 12 ion kim loại tạp chất trong W. Nghiên cứu ảnh hƣởng của nền Vonfram đến phép xác định. Xác định khoảng tuyến tính và xây dựng đƣờng chuẩn, giới hạn phát hiện, giới hạn định lƣợng. Khoảng tuyến tính của phép đo ICP-MS.

Xây dựng đƣờng chuẩn các nguyên tố. Khảo sát sai số và độ lặp lại của phép đo. Phân tích mẫu bột Vonfram của một số nƣớc đang sản xuất. Quy trình phá mẫu.

Đánh giá hiệu suất thu hồi theo hai quy trình phá mẫu W. Quy trình phân tích mẫu W bằng phƣơng pháp ICP-MS .70 TÀI LIỆU THAM KHẢO. TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com DANH MỤC CÁC KÝ HIỆU VIẾT TẮT SỬ DỤNG TRONG LUẬN VĂN STT Kí hiệu viết tắt Tên đầy đủ 1 AAS Phổ hấp thụ nguyên tử (atomic absorption spectrometry) 2 AES Phổ phát xạ nguyên tử (atomic emision spectrometry) 3 ICP-MS Phổ plasma cảm ứng cao tần (Inductively coupled plasma - Mass spectrometry) 4 CE Tiêu chuẩn hàng hóa xuất nhập vào Châu Âu (European conformity) 5 CPS Số đếm trên thời gian 1 giây (Counter per second) 6 DCP Dòng plasma một chiều (Drect Current Plasma) 7 F-AAS Phổ hấp thụ nguyên tử ngọn lửa (Flame atomic absorption spectrometry) 8 GF-AAS Phổ hấp thụ nguyên tử không ngọn lửa (Graphite furnace atomic absorption spectrometry) 9 HPLC Phƣơng pháp sắc ký lỏng hiệu năng cao (High- performance liquid chromatography) 10 LOD Giới hạn phát hiện (Limit of Detection) 11 LOQ Giới hạn định lƣợng (Limit of Quantity) 12 LLKM Lƣu lƣợng khí mang 13 MIP Plasma cảm ứng vi sóng (Microwave Induced Plasma) 14 RF Công suất nguồn phát cao tần (Radio Frequency power) 15 ppm Phần triệu (part per million) 16 ppb Phần tỷ (part per billion) 17 ppt Phần nghìn tỷ (part per thousand billion) 18 RSD Độ lệch chuẩn tƣơng đối (Relative standard deviation) 19 SD Độ lệch chuẩn (Standard deviation) 20 SDe Độ sâu mẫu (Sample Depth) TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com DANH MỤC CÁC BẢNG Ký hiệu Tên bảng Trang Bảng 1.1 Tiêu chuẩn kỹ thuật một số bột kim loại Vonfram 9 Bảng 1.2 Các nguyên tố vi lƣợng có trong bột Vonfram 10 Bảng 1.3 Phần trăm trọng lƣợng các nguyên tố vi lƣợng trong thiên 11 nhiên Bảng 3.1: Số khối, tỷ lệ đồng vị và phƣơng trình hiệu chỉnh đối với 38 các nguyên tố Bảng 3.2: Kết quả khảo sát ảnh hƣởng của công suất RF 40 Bảng 3.3: Kết quả khảo sát lƣu lƣợng khí mang 42 Bảng 3.4: Kết quả khảo sát ảnh hƣởng của thế thấu kính ion 45 Bảng 3.5: Các thông số đƣợc chọn để định lƣợng các nguyên tố kim 47 loại trong nền Bảng 3.6: Phƣơng trình đƣờng chuẩn của 12 nguyên tố vết kim loại 57 Bảng 3.7: Giới hạn phát hiện và độ nhạy của các nguyên tố 58 Bảng 3.8: Sai số và độ lặp lại của phép đo các nguyên tố tạp chất 60 trong W Bảng 3.9: So sánh hiệu suất thu hồi của quy trình phân tích 65 Bảng 3.10: Kết quả phân tích tạp chất kim loại trong bột W tinh 66 khiết Bảng 3.11: Kết quả xác định khoảng tin cậy các nguyên tố kim loại 69 trong mẫu bột W của Trung Quốc TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com DANH MỤC CÁC HÌNH Ký hiệu Tên hình Trang Hình 1.1: Sơ đồ công nghệ làm sạch dung dịch natri vonframat 7 Hình 1.2: Sơ đồ công nghệ chế tạo Vonfram bột từ quặng 8 Vonframit Hình 2.1: Ứng dụng của ICP-MS trong các ngành và lĩnh vực khác 26 nhau Hình 2.2: Cấu tạo nguyên tử (lớp vỏ electron) 28 Hình 2.3: Cấu tạo nguyên tử và sơ đồ chuyển mức năng lƣợng của 28 electron Hình 2.4: Các bộ phận chính của máy ICP-MS 30 Hình 2.5: Bộ tạo sol khí kiểu mao dẫn 31 Hình 2.6: Bộ tạo plasma và nhiệt độ các vùng của plasma 32 Hình 2.7: Kiểu hệ lọc khối trƣờng tứ cực 33 Hình 2.8: Hệ thống máy ICP-MS Elan 9000 Perkin-Elmer 34 Hình 3.1: Ảnh hƣởng của công suất RF 41 Hình 3.2: Ảnh hƣởng của Lƣu lƣợng khí mang 43 Hình 3.3: Ảnh hƣởng của thế thấu kính ion 46 Hình 3.4: Ảnh hƣởng của nền W đến tín hiệu đo 48 Hình 3.5: Đƣờng chuẩn iôn crôm (Cr+) 50 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.6: Đƣờng chuẩn iôn Mangan (Mn+) 51 Hình 3.7: Đƣờng chuẩn iôn sắt (Fe+) 51 Hình 3.8: Đƣờng chuẩn iôn côban (Co+) 52 Hình 3.9: Đƣờng chuẩn iôn niken (Ni+) 52 Hình 3.10: Đƣờng chuẩn iôn đồng (Cu+) 53 Hình 3.11: Đƣờng chuẩn iôn asen (As+) 53 Hình 3.12: Đƣờng chuẩn iôn molipden (Mo+) 54 Hình 3.13: Đƣờng chuẩn iôn cadimi (Cd+) 54 Hình 3.14: Đƣờng chuẩn iôn antimon (Sb+) 55 Hình 3.15: Đƣờng chuẩn iôn chì (Pb+) 55 Hình 3.16: Đƣờng chuẩn iôn bitmut (Bi+) 56 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com LỜI NÓI ĐẦU Trên thế giới, kim loại Vonfram đƣợc sử dụng rất phổ biến trong nhiều lĩnh vực khác nhau, ví dụ nhƣ trong ngành quang điện tử Vonfram đƣợc dùng để chế tạo sợi đốt trong các bóng đèn điện, bóng điện tử. Trong ngành luyện kim Vonfram đƣợc dùng để chế tạo hợp kim cứng, thép chịu mài mòn cao, đƣờng ray xe lửa, dụng cụ cắt gọt kim loại… Trong lĩnh vực hỏa thuật, Vonfram là nguyên liệu chính để chế tạo các loại thuốc cháy chậm dùng cho các cơ cấu giữ chậm trong đạn dƣợc, kíp mìn, kíp vi sai.

Hiện nay, kim loại Vonfram ở dạng sợi, tấm, bột, phần lớn vẫn phải nhập khẩu từ nƣớc ngoài, chỉ có một lƣợng nhỏ đƣợc sản xuất tại Việt Nam ở một số cơ sở nhƣ Viện Công nghệ- Bộ Quốc phòng, Viện luyện kim màu- Viện Khoa học Việt nam, Công ty Cơ khí Hóa chất 13- Bộ Quốc phòng và một số cơ sở tinh chế quặng Vonframmic dùng để xuất khẩu. Nhu cầu sử dụng kim loại Vonfram của Việt Nam là rất lớn, tuy nhiên với công nghệ hiện nay của nƣớc ta chƣa đáp ứng đƣợc nhu cầu về số lƣợng, chất lƣợng sản phẩm. Khó khăn lớn nhất là việc phân tích đánh giá chất lƣợng sản phẩm (thành phần, tỷ lệ các loại tạp chất) để thiết lập và điều chỉnh công nghệ chế tạo nhằm tạo ra sản phẩm kim loại W có độ tinh khiết cao. Tuy nhiên, ở nƣớc ta hiện nay hầu hết các cơ sở sản xuất vẫn đã và đang sử dụng các phƣơng pháp phân tích cổ điển (phƣơng pháp hóa học) để đánh giá chất lƣợng Vonfram, cụ thể là các đơn vị trong Bộ Quốc phòng vẫn đang sử dụng phƣơng pháp chuẩn độ, tách, chiết…để phân tích đánh giá chất lƣợng sản phẩm hoặc nguyên liệu cho sản xuất của đơn vị mình, đặc điểm của các phƣơng pháp phân tích này là độ chính xác không cao, không phát hiện đƣợc các thành phần có hàm lƣợng nhỏ, tiêu tốn nhiều hóa chất, thời gian phân tích kéo dài, nguy hiểm, độc hại.

Công ty Hóa chất 21- Bộ Quốc phòng là đơn vị hàng đầu của Bộ Quốc phòng trong lĩnh vực sản xuất hỏa cụ và hóa chất đặc chủng, hàng năm phải thực hiện hàng TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com chục nghìn mẫu phân tích khác nhau, việc phân tích đánh giá chất lƣợng sản phẩm tiêu tốn rất nhiều thời gian và công nhân thao tác. Chúng tôi đang nghiên cứu đầu tƣ một số dây chuyền sản xuất, trong đó có dây chuyền sản xuất bột kim loại W, do vậy việc lựa chọn phƣơng pháp phân tích đáp ứng yêu cầu về kiểm tra chất lƣợng sản phẩm đảm bảo độ chính xác cao, tiêu tốn ít thời gian và phát hiện đƣợc các chất có nồng độ nhỏ để lựa chọn thiết bị cần đầu tƣ là rất quan trọng. Chúng tôi đã lựa chọn phƣơng pháp phân tích quang học, cụ thể là phƣơng pháp phổ Plasma cảm ứng cao tần (ICP-MS). Mục đích thứ nhất là để lựa chọn thiết bị đầu tƣ cho sản xuất của Công ty, thứ hai là hiện đại hóa thiết bị và công nghệ phân tích, thứ ba là phục vụ trực tiếp cho dự án đầu tƣ dây chuyền sản xuất bột W dùng cho sản xuất thuốc vi sai an toàn.

Nội dung được bảo vệ bản quyền — Tải xuống đầy đủ