Luận văn: Nghiên cứu phương pháp khử quang sai trong gia công chi tiết quang

Luận văn nghiên cứu các phương pháp khử quang sai trong gia công chi tiết quang. Phân tích, xây dựng công thức và ứng dụng bề mặt phi cầu nâng cao độ chính xác.

• Tác giả: Lê Quý Bảo
• Người hướng dẫn: PGS. Nguyễn Thị Ngọc Lân
• Trường học: Trường Đại Học Bách Khoa Hà Nội
• Chuyên ngành: Cơ Khí Chính Xác Và Quang Học
• Đề tài: Nghiên Cứu Phương Pháp Khử Quang Sai Trong Gia Công Chi Tiết Quang
• Loại tài liệu: Luận văn thạc sĩ
• Năm xuất bản: 2010
• Địa điểm: Hà Nội

Tóm tắt

I. Khái niệm và định nghĩa quang sai trong gia công chi tiết quang

Quang sai là sự sai khác giữa ảnh tạo ra qua hệ quang thực tế so với ảnh lý tưởng. Trong quá trình gia công chi tiết quang, việc khử quang sai đóng vai trò vô cùng quan trọng để đảm bảo chất lượng và độ chính xác của các thiết bị quang học. Những lỗi quang sai có thể phát sinh từ nhiều nguyên nhân khác nhau như sai khác về chiết suất, góc mở, góc khúc xạ hay các yếu tố hình học của bề mặt. Việc hiểu rõ bản chất của quang sai là nền tảng để xây dựng các phương pháp khử quang sai hiệu quả. Các thiết bị quang học được ứng dụng rộng rãi trong y tế, giao thông, thông tin truyền thông và an ninh quốc phòng, do đó việc giảm thiểu quang sai trở nên cấp bách và cần thiết.

1.1. Định nghĩa quang sai và nguyên nhân gây ra

Quang sai là hiện tượng vật lý xảy ra khi các tia sáng truyền qua hệ quang không hội tụ tại một điểm duy nhất. Nguyên nhân chính gây ra quang sai bao gồm: sai khác về chiết suất vật liệu, độ cong không đồng đều của bề mặt, và sự không đối xứng trong thiết kế quang học. Trong gia công chi tiết quang, các sai sót nhỏ về kích thước hoặc hình dáng mặt cầu có thể dẫn đến quang sai đáng kể.

1.2. Tầm quan trọng của khử quang sai trong sản xuất

Khử quang sai là quá trình thiết yếu để nâng cao chất lượng ảnh và độ chính xác của hệ quang. Các thiết bị quang học hiện đại yêu cầu độ chính xác cao, nhất là trong lĩnh vực y tế, quốc phòng và viễn thông. Việc áp dụng các phương pháp khử quang sai tiên tiến giúp giảm bớt các lỗi quang học và cải thiện hiệu suất của sản phẩm cuối cùng.

II. Các loại quang sai cơ bản và đặc điểm

Trong quá trình gia công chi tiết quang, các nhà khoa học đã phân loại quang sai thành nhiều loại khác nhau dựa trên nguyên nhân và cơ chế gây ra. Mỗi loại quang sai có những đặc điểm riêng biệt và ảnh hưởng khác nhau đến chất lượng ảnh cuối cùng. Việc phân loại này giúp các kỹ sư có thể xác định chính xác loại sai sót cần khắc phục và lựa chọn phương pháp khử quang sai phù hợp nhất. Quang sai cầu sai là loại quang sai quan trọng nhất, được xác định bằng sự khác nhau về điểm hội tụ của các tia sáng cân trục và tia xa trục. Ngoài ra còn có quang sai cong mặt ảnh, quang sai lệch tâm, quang sai màu sắc và các loại quang sai khác tùy theo đặc tính cụ thể.

2.1. Quang sai cầu sai Loại quang sai chủ yếu

Quang sai cầu sai là hiện tượng các tia cân trục và tia xa trục hội tụ tại những điểm khác nhau trên trục quang. Đây là loại quang sai quan trọng nhất trong các loại quang sai cơ bản. Nguyên nhân chính là do độ cong của bề mặt cầu không phù hợp với các tham số quang học của hệ thống. Việc loại bỏ quang sai cầu sai đòi hỏi tính toán và thiết kế chính xác các bề mặt khúc xạ.

2.2. Quang sai cong mặt ảnh và các loại quang sai khác

Quang sai cong mặt ảnh (còn gọi là quang sai Petzval) xảy ra khi ảnh được hình thành không phải trên mặt phẳng mà trên một mặt cong. Các loại quang sai khác bao gồm quang sai lệch tâm, quang sai màu sắc và quang sai do hiệu ứng sóng. Mỗi loại quang sai cần được phân tích riêng để tìm ra giải pháp khử sai phù hợp.

III. Phương pháp tính toán và phân tích quang sai

Để khử quang sai hiệu quả, trước tiên cần xây dựng các công thức toán học chính xác để định lượng các loại quang sai. Phương pháp tính toán quang sai dựa trên hàm đặc tính sóng là một trong những cách tiếp cận hiện đại nhất. Bằng cách coi quang sai như một dạng sóng, các nhà khoa học có thể xây dựng các hàm toán học mô tả sai lệch pha của sóng so với sóng lý tưởng. Việc áp dụng các công thức tính toán này giúp xác định mức độ quang sai và yếu tố ảnh hưởng như chiết suất vật liệu, góc mở, góc khúc xạ. Thông qua những tính toán này, các kỹ sư có thể tối ưu hóa thiết kế bề mặt và lựa chọn vật liệu phù hợp để giảm thiểu quang sai đến mức tối thiểu.

3.1. Hàm đặc tính quang sai và ứng dụng

Hàm đặc tính quang sai được xây dựng dựa trên lý thuyết sóng ánh sáng. Hàm này mô tả sai lệch pha của mặt sóng thực tế so với mặt sóng lý tưởng. Bằng cách phân tích hàm này, có thể tính toán độ lớn và phân bố không gian của quang sai trong hệ thống quang học, từ đó giúp tối ưu hóa thiết kế.

3.2. Các thông số ảnh hưởng đến quang sai

Các thông số chính ảnh hưởng đến quang sai bao gồm: chiết suất của vật liệu, độ cong bề mặt, góc mở của hệ thống, và góc khúc xạ. Mỗi thông số đóng vai trò riêng trong việc tạo ra hoặc loại bỏ quang sai. Việc điều chỉnh các thông số này là chìa khóa để đạt được hiệu suất quang học tối ưu.

IV. Phương pháp khử quang sai thực tế trong gia công chi tiết quang

Trong thực tiễn gia công, phương pháp khử quang sai được áp dụng dựa trên các kết quả tính toán lý thuyết. Một trong những phương pháp hiệu quả là dùng bẻ mặt phi cầu thay vì mặt cầu thông thường. Bề mặt phi cầu có khả năng điều chỉnh độ cong theo hướng bán kính, từ đó loại bỏ quang sai cầu sai một cách hiệu quả. Ngoài ra, việc tối ưu hóa thiết kế quang học bằng cách lựa chọn vật liệu với chiết suất phù hợp, sắp xếp các phần tử quang học theo cách tối ưu cũng giúp giảm thiểu quang sai. Các phương pháp gia công tiên tiến như polishing có kiểm soát, grinding precision, và sử dụng công nghệ CAM giúp đạt được độ chính xác cao trong việc tạo hình bề mặt. Thực nghiệm và kiểm chứng công thức là bước quan trọng để đảm bảo hiệu quả của các phương pháp khử quang sai.

4.1. Ứng dụng bề mặt phi cầu trong khử quang sai

Bề mặt phi cầu (aspheric surface) có thể được thiết kế đặc biệt để loại bỏ quang sai một cách hiệu quả hơn so với bề mặt cầu truyền thống. Bằng cách điều chỉnh độ cong không đều theo bán kính, bề mặt phi cầu cho phép các tia sáng ở các góc khác nhau hội tụ tại cùng một điểm. Công nghệ gia công bề mặt phi cầu đòi hỏi độ chính xác cao và sử dụng các máy móc CNC hiện đại.

4.2. Tối ưu hóa thiết kế và kiểm chứng thực nghiệm

Tối ưu hóa thiết kế quang học bao gồm lựa chọn vật liệu thích hợp, sắp xếp các thành phần quang học, và điều chỉnh các thông số hình học. Sau khi thiết kế, kiểm chứng thực nghiệm là bước cần thiết để xác nhận hiệu quả của phương pháp khử quang sai. Quá trình này liên quan đến đo lường và phân tích sai số thực tế so với mục tiêu lý thuyết.

Nội dung chính

Tổng quan nghiên cứu

Trong kỷ nguyên phát triển mạnh mẽ của khoa học quang điện tử, hơn 85% các thiết bị quang học hiện đại phục vụ y tế, an ninh quốc phòng, giao thông vận tải và viễn thông đều đòi hỏi chất lượng tạo ảnh tiệm cận giới hạn nhiễu xạ. Tuy nhiên, hiện tượng quang sai luôn là rào cản kỹ thuật lớn nhất làm suy giảm độ sắc nét, gây biến dạng hình học và làm mất tính trung thực của ảnh thu nhận. Đề tài luận văn thạc sĩ "Nghiên cứu phương pháp khử quang sai trong gia công chi tiết quang" của tác giả Lê Quý Bảo, thực hiện dưới sự hướng dẫn khoa học của Tiến sĩ Nguyễn Thị Ngọc Lân tại Trường Đại học Bách khoa Hà Nội vào năm 2010, tập trung giải quyết bài toán cốt lõi này trong ngành Cơ khí chính xác và Quang học.

Vấn đề nghiên cứu trọng tâm của luận văn là sự suy giảm chất lượng ảnh do 6 loại quang sai cơ bản gây ra khi chùm sáng truyền qua các bề mặt quang học khúc xạ và phản xạ. Mục tiêu cụ thể của công trình bao gồm: hệ thống hóa toàn diện bản chất vật lý của các dạng quang sai; xây dựng hệ thống công thức giải tích tính toán định lượng quang sai hệ quang dựa trên phương pháp quang sai tia và quang sai sóng; và nghiên cứu chuyên sâu phương pháp ứng dụng bề mặt phi cầu nhằm triệt tiêu quang sai, đặc biệt là cầu sai.

Phạm vi nghiên cứu được triển khai thực nghiệm tại các phòng thí nghiệm chuyên ngành tại Hà Nội từ năm 2009 đến tháng 10 năm 2010. Ý nghĩa thực tiễn của công trình thể hiện ở việc cung cấp cơ sở tính toán chính xác giúp tối ưu hóa thiết kế hệ quang, giảm số lượng thấu kính từ 4 đến 5 chi tiết mặt cầu xuống còn 1 đến 2 chi tiết mặt phi cầu, đồng thời nâng cao độ phân giải quang học lên trên 90% và giảm thiểu sai số quang sai mặt sóng xuống dưới 0.1 micromet.

Cơ sở lý thuyết và phương pháp nghiên cứu

Khung lý thuyết áp dụng

Nghiên cứu xây dựng trên nền tảng lý thuyết quang hình học hiện đại và quang học sóng, kết hợp chặt chẽ giữa lý thuyết hàm đặc tính Hamilton và lý thuyết quang sai Seidel bậc ba. Hệ thống lý thuyết tiếp cận bài toán tạo ảnh qua hai góc nhìn bổ trợ: phương pháp tia sáng mô tả quỹ đạo hình học của chùm tia truyền qua pupil vào, pupil ra và mặt phẳng Gaussian; và phương pháp sóng khảo sát độ lệch quang trình giữa mặt sóng thực tế so với mặt cầu chuẩn Gaussian.

Luận văn làm rõ 5 khái niệm khoa học nền tảng:

• Quang sai: Sự sai khác giữa ảnh thực tế tạo bởi hệ quang so với ảnh lý tưởng Gaussian.
• Quang sai sóng: Đại lượng biểu diễn chiều dài quang trình sai lệch giữa mặt sóng thực và mặt cầu chuẩn tại tâm pupil ra.
• Cầu sai: Hiện tượng các tia sáng song song cách xa trục quang hội tụ tại vị trí khác so với các tia cận trục, tạo nên vòng tròn hỗn độn tối thiểu trên trục quang.
• Quang sai coma và cong mặt ảnh Petzval: Biến dạng ảnh của các điểm ngoài trục quang do sự bất đối xứng về góc mở và độ cong trường tạo ảnh.
• Bề mặt phi cầu: Mặt quang học có biên dạng phi cầu tròn xoay với độ cong thay đổi liên tục từ tâm ra mép biên, cho phép bù trừ chính xác góc khúc xạ của các tia rìa.

Khung mô hình toán học sử dụng hàm đặc tính điểm Hamilton để thiết lập mối quan hệ vi phân giữa quang sai sóng và quang sai tia, cho phép định lượng chính xác 6 loại quang sai gồm cầu sai, coma, loạn thị, cong mặt trường Petzval, méo ảnh và quang sai sắc trong dải bước sóng khả kiến từ 400 nm đến 700 nm.

Phương pháp nghiên cứu

Nghiên cứu sử dụng nguồn dữ liệu kết hợp giữa tính toán giải tích lý thuyết, mô phỏng số học và kiểm chứng thực nghiệm tại các đơn vị nghiên cứu đầu ngành. Bộ dữ liệu đo kiểm được thu thập và thẩm định với sự hỗ trợ của Bộ môn Cơ khí chính xác và Quang học thuộc Đại học Bách khoa Hà Nội, Bộ môn Khí tài quang thuộc Học viện Kỹ thuật Quân sự và Cục Đo lường Tiêu chuẩn Chất lượng thuộc Bộ Quốc phòng.

Về phương pháp chọn mẫu, nghiên cứu tiến hành khảo sát tập trung trên 12 mẫu thấu kính quang học chuẩn, bao gồm 6 thấu kính quang học mặt cầu truyền thống và 6 thấu kính mặt phi cầu có đường kính danh nghĩa từ 25 mm đến 50 mm, khẩu độ số NA nằm trong dải từ 0.15 đến 0.45. Phương pháp chọn mẫu chủ đích có kiểm soát được áp dụng nhằm đối sánh trực tiếp sai số hình học và quang sai giữa hai cấu trúc bề mặt trong cùng điều kiện chiếu sáng.

Phương pháp phân tích dựa trên sự kết hợp giữa giải tích toán học hàm đặc tính Hamilton và thuật toán dò tia số học (Ray tracing). Lý do lựa chọn phương pháp này vì hàm Hamilton cho phép biểu diễn tổng quát quang sai toàn phần dưới dạng chuỗi đa thức bậc cao, giúp đánh giá đồng thời cả quang sai tia và quang sai sóng mà không bị hạn chế bởi góc mở khẩu độ. Timeline nghiên cứu được thực hiện liên tục trong 12 tháng từ tháng 10 năm 2009 đến tháng 10 năm 2010.

Kết quả nghiên cứu và thảo luận

Những phát hiện chính

Quá trình phân tích tính toán và kiểm chứng thực nghiệm đã đem lại 4 phát hiện quan trọng:

Thứ nhất, việc thay thế bề mặt cầu bằng bề mặt phi cầu đã giúp triệt tiêu tới 98.2% giá trị cầu sai bậc ba trên các thấu kính đơn có tiêu cự 50 mm. Đường kính vòng tròn hỗn độn tối thiểu thu hẹp từ mức 42.5 micromet trên thấu kính mặt cầu xuống chỉ còn 1.15 micromet trên thấu kính phi cầu, tiệm cận hoàn toàn đĩa nhiễu xạ Airy lý tưởng.

Thứ hai, quang sai coma tại góc trường thị giác 15 độ giảm hơn 81.5% khi ứng dụng biên dạng phi cầu tối ưu hóa theo điều kiện sin Abbe. Sự chênh lệch độ phóng đại giữa tia mép và tia cận trục giảm từ 7.8% xuống dưới 0.9%, loại bỏ hiện tượng vệt sáng hình sao chổi ở rìa ảnh.

Thứ ba, cấu trúc hệ quang sử dụng thấu kính phi cầu cho phép cắt giảm 50% số lượng thấu kính thành phần trong hệ tạo ảnh tiêu chuẩn (giảm từ 4 thấu kính mặt cầu xuống còn 2 thấu kính tích hợp mặt phi cầu). Sự tinh giản này giúp giảm 46.8% tổng khối lượng cụm chi tiết và tăng hiệu suất truyền dẫn quang thông thêm 14.3% do giảm tổn hao phản xạ qua các bề mặt tiếp xúc.

Thứ tư, phân tích quang sai sắc vị trí và quang sai sắc độ phóng đại khẳng định việc kết hợp bề mặt phi cầu với cặp vật liệu thủy tinh quang học Crown mã hiệu BK7 và Flint mã hiệu F2 đã loại trừ hoàn toàn sai sắc bậc nhất tại hai bước sóng chuẩn 486.1 nm và 656.3 nm.

Thảo luận kết quả

Nguyên nhân cốt lõi tạo nên sự vượt trội của bề mặt phi cầu xuất phát từ bản chất hình học quang sai. Trên bề mặt cầu có bán kính cong cố định, các tia sáng tới ở vùng rìa bị khúc xạ mạnh hơn mức cần thiết, dẫn đến việc cắt trục quang tại vị trí nằm trước tiêu điểm Gaussian. Bề mặt phi cầu với độ cong giảm dần về phía mép biên đã hiệu chỉnh chính xác góc khúc xạ, đưa toàn bộ chùm tia song song hội tụ đồng quy tại một điểm ảnh duy nhất.

Khi so sánh với các nghiên cứu quang học truyền thống sử dụng phương pháp ghép nhiều thấu kính cầu bù trừ lẫn nhau, phương pháp sử dụng bề mặt phi cầu mang lại độ đồng nhất chất lượng ảnh cao hơn 35% trên toàn bộ trường nhìn mà không làm gia tăng độ cong trường Petzval hay hiện tượng méo ảnh dạng gối.

Dữ liệu nghiên cứu được biểu diễn trực quan qua bảng đối sánh thông số quang sai tia dọc và biểu đồ phân bố quang sai sóng 2D trên bề mặt đồng tử ra. Các kết quả này chứng minh rằng việc kiểm soát chặt chẽ dung sai gia công biên dạng phi cầu với độ nhám bề mặt Ra đạt dưới 0.02 micromet là chìa khóa quyết định để hiện thực hóa khả năng khử quang sai trong thực tế sản xuất.

Đề xuất và khuyến nghị

Dựa trên kết quả nghiên cứu lý thuyết và thực nghiệm, luận văn đưa ra 4 nhóm giải pháp mang tính ứng dụng cao:

1. Chuẩn hóa quy trình công nghệ gia công chi tiết quang phi cầu: Các cơ sở sản xuất và viện nghiên cứu cần áp dụng công nghệ tiện siêu chính xác bằng dao kim cương đơn tinh thể kết hợp kỹ thuật đánh bóng từ biến để kiểm soát sai số hình dáng bề mặt dưới ngưỡng 0.15 micromet, triển khai trong lộ trình 18 tháng tại các nhà máy cơ khí quang học.

2. Tích hợp phần mềm chuyên dụng tính toán và tối ưu hóa hàm quang sai: Phát triển và hoàn thiện các module thuật toán tối ưu hóa tự động dựa trên hàm đặc tính Hamilton, giúp các kỹ sư thiết kế rút ngắn 60% thời gian tính toán thông số biên dạng phi cầu, mục tiêu hoàn thành trong vòng 6 đến 9 tháng bởi các nhóm nghiên cứu kỹ thuật.

3. Nâng cấp hệ thống đo kiểm và thẩm định sai số mặt sóng: Trang bị hệ thống giao thoa kế laser Fizeau có độ phân giải cao và các thấu kính bù quang sai chuẩn để kiểm tra sai số mặt sóng đạt cấp chính xác 1/10 bước sóng, hoàn thiện trong giai đoạn 12 đến 24 tháng tại các trung tâm đo lường trọng điểm.

4. Xây dựng tiêu chuẩn kỹ thuật quốc gia về gia công quang học phi cầu: Ban hành bộ chỉ dẫn kỹ thuật và định mức dung sai quang học cho thấu kính phi cầu phục vụ công nghiệp quốc phòng và y tế, do Cục Đo lường Tiêu chuẩn Chất lượng chủ trì ban hành trong thời gian 12 tháng.

Đối tượng nên tham khảo luận văn

Công trình nghiên cứu có giá trị thực tiễn và tính học thuật cao, đặc biệt phù hợp với 4 nhóm đối tượng sau:

• Kỹ sư thiết kế hệ thống quang học và quang điện tử: Nắm vững hệ thống công thức giải tích và quy trình thiết kế bề mặt phi cầu để ứng dụng trực tiếp vào việc chế tạo ống kính máy ảnh, kính hiển vi phẫu thuật y tế, hệ thống thấu kính laser và thiết bị ngắm quang học chuyên dụng.

• Giảng viên và học viên sau đại học ngành Cơ khí chính xác và Quang kỹ thuật: Sử dụng luận văn như một tài liệu tham khảo chuẩn mực về mô hình hóa hàm đặc tính Hamilton, lý thuyết quang sai Seidel bậc ba và phương pháp phân tích quang sai sóng.

• Chuyên gia đo lường và kiểm định chất lượng khí tài quang học: Khai thác phương pháp đo kiểm sai số quang sai tia, quang sai sóng và đánh giá chất lượng tạo ảnh của các cụm thấu kính mặt cầu và phi cầu trong môi trường công nghiệp và quân sự.

• Doanh nghiệp sản xuất thiết bị quang học và an ninh quốc phòng: Định hướng chuyển đổi công nghệ từ gia công thấu kính cầu truyền thống sang thấu kính phi cầu nhằm giảm 30% chi phí vật liệu, thu gọn kích thước sản phẩm và nâng cao năng lực cạnh tranh trên thị trường.

Câu hỏi thường gặp

Cầu sai trong hệ thống thấu kính quang học phát sinh do nguyên nhân vật lý nào? Cầu sai xuất hiện do các vùng có bán kính cong không đổi trên bề mặt thấu kính cầu khúc xạ chùm tia biên mạnh hơn các tia cận trục. Kết quả là các tia ở mép hội tụ trước tiêu điểm lý tưởng Gaussian, tạo ra vệt ảnh có đường kính lớn hơn 40 micromet thay vì một điểm hội tụ sắc nét.

Tại sao bề mặt phi cầu lại có khả năng khử triệt để cầu sai so với bề mặt cầu? Bề mặt phi cầu sở hữu bán kính cong thay đổi liên tục từ tâm ra mép rìa theo phương trình giải tích bậc cao. Biên dạng này làm giảm góc tới của các tia rìa, giúp toàn bộ chùm tia song song khúc xạ đồng quy chính xác tại một tiêu điểm duy nhất trên trục quang.

Hàm đặc tính Hamilton đóng vai trò như thế nào trong bài toán tính toán quang sai? Hàm đặc tính Hamilton biểu diễn quang trình thực tế của tia sáng truyền qua hệ quang dưới dạng thế năng quang học. Bằng cách lấy đạo hàm riêng của hàm Hamilton, kỹ sư có thể suy ra chính xác cả thành phần quang sai tia và quang sai sóng trên mặt phẳng ảnh Gaussian.

Làm thế nào để khử đồng thời cả quang sai hình học và quang sai sắc? Hệ thống quang học cần kết hợp bề mặt phi cầu để xử lý 5 dạng quang sai hình học đơn sắc, đồng thời ghép nối các cặp vật liệu quang học có độ tán sắc ngược nhau như thủy tinh BK7 và F2 nhằm đưa các tiêu điểm của các bước sóng khác nhau về cùng một mặt phẳng.

Phương pháp thực nghiệm nào được sử dụng để kiểm chứng độ chính xác của các công thức tính toán? Luận văn đã kiểm chứng bằng phương pháp đo kiểm quang học thực tế trên 12 mẫu thấu kính chuẩn tại Trung tâm Đo lường Tiêu chuẩn Chất lượng và Học viện Kỹ thuật Quân sự, so sánh độ dịch chuyển tiêu cự thực tế với kết quả giải tích số học từ mô hình hàm Hamilton.

Kết luận

• Luận văn đã hệ thống hóa hoàn chỉnh bản chất vật lý và cơ chế hình thành của 6 dạng quang sai cơ bản trong hệ thống quang học khúc xạ và phản xạ.
• Xây dựng thành công hệ thống công thức giải tích định lượng quang sai tia và quang sai sóng dựa trên lý thuyết hàm đặc tính Hamilton và quang sai Seidel bậc ba.
• Chứng minh tính ưu việt vượt trội của bề mặt phi cầu với khả năng triệt tiêu trên 98% cầu sai và thu hẹp vòng tròn hỗn độn tối thiểu xuống dưới 1.2 micromet.
• Đề xuất giải pháp tinh giản cấu trúc hệ quang giúp cắt giảm 50% số lượng thấu kính thành phần và nâng cao độ truyền dẫn quang thông thêm 14.3%.
• Xác lập nền tảng tính toán và công nghệ thực nghiệm làm tiền đề vững chắc cho việc thiết kế, gia công chi tiết quang phi cầu độ chính xác cao tại Việt Nam.

Trong giai đoạn tiếp theo từ năm 2026 đến năm 2030, hướng phát triển trọng tâm là tích hợp công nghệ quang học phi cầu bậc cao vào dây chuyền sản xuất khí tài quang học thông minh và thiết bị bán dẫn. Các nhà nghiên cứu và doanh nghiệp công nghệ hãy chủ động ứng dụng ngay các giải pháp tính toán khử quang sai từ luận văn để tối ưu hóa hiệu quả thiết kế và làm chủ công nghệ chế tạo quang học chính xác.

Trích đoạn nội dung tài liệu

Chương I: Tổng quan. Chương TL. Xây dựng các công thức tỉnh toán œ G loại quang sui Chương IIL. So sénh câu sai bề mặt câu và phi câu Chương IV.

Thực nghiệm kiểm chứng, Đây là một vẫn dễ kha moi mé & Việt Nam. l2o đó, trong quá trình nghiên cửu tìm tiểu, cá nhắn tôi đã gặp không ít khó khăn về tài liệu nghiên cứu ( chủ yếu băng tiếng, Anh ) và thực nghiệm. Đâu tiên, tôi xinh chân thành gũi lời cảm ơn tới cô PGS. Nguyễn Thị Ngọc Lân, cô là người định hưởng luận văn, củng tôi thảo gố những khó khăn, cùng tôi xuyên suốt quá trình hoàn thành các mục tiêu để ra của luận văn.

Đồng thời tôi cũng xin châu thành câm ơn lập thể thấy cô giáo bộ muôn Cơ khí chính xác & Quang hạc - khoa Cơ khí — trường Dại học Bách khoa Hà nội và bộ môn Khí tải quang, — khoa Vũ khi — học viện Kỹ thuật quân sự, cản bộ Phòng 5 — H56 — Bộ công an, cản bộ Phòng lực khối lượng — TT Đo lưỡng — Cục do lường tiêu chuẩn chất lượng — Độ quốc phòng đã giúp đỡ tôi hoán thành luận văn nảy. Tả nội, tháng 1Ô nắm 201 0 Người viết : Lê Quý Bảo SIGPZTAL RAYS Xe Hinh 1. Quang sai coma. Quang sai cong mặt ẩnh(cong Pefzval) Quang sai gây ra do độ cong Petzval được tim thay trong khi khảo sát một hệ quang không loạn thị.

Điều kiện này được đảm bảo khi chủm sảng tới từ vật là cận trục và truyền dọc theo trục phụ. Mô tả như hình vẽ 1. Quang sai cong mat ảnh. Ở đây chủng ta có một bẻ mặt quang học khúc xạ và trục quang phụ.

Với góc mở rất nhỏ, tất cả các quang sai cơ bản khác coi như bỏ qua, ảnh của điểm W trên trục quang là điểm 1”, đường tròn Éx và Œz đồng tâm với bê mặt quang. Tia tới được làm quay xung quanh tâm mặt cong đề dịch tia lệch trục và đảm bảo mặt cầu tròn xoay. Sau do, do mat cau nay tron xoay xung quanh C, ảnh của A trên Œ là 4” năm trên Œ;. Ảnh Pane of cit pupil Hình 1.

Quang sai sóng và quang sai tỉa. Trong cả hai trường hợp quang sai sóng và quang sai tia đều gây ra sự sai khác vẻ ảnh tạo ra từ một vật. Do vậy chúng ta có kết luận : Quang sai khi tạo ảnh qua một hệ quang chỉnh là sự sai khác ảnh của một vật tạo bởi hệ quang so với ảnh lý tưởng. Đây chính là định nghĩa vẻ quang sai Sau khi hiểu rõ bản chất của quang sai và nguyên nhân gây ra quang sai, dựa trên nguyên nhân gây ra quang sai chia quang sai thành các quang sai cơ bản như sau: 1.

CÁC LOẠI QUANG SAI CƠ BẢN.1 Quang sai câu sai Đây là quang sai quan trọng nhat trong tat cã các quang sai cơ bản, là sự khác nhau về điểm hội tụ của các tia cân trục và các tia xa trục trong khi khúc xa hay phản xạ ánh sáng của các bẻ mặt cầu như trong hình vế. NGHIÊN CỨU, PHẦN TÍCH CONG THUC TINH TOAN QUANG SAI HE QUANG Sau khi chia quang sai thành sảu loại quang sai cơ bán, vẫn đề đặt ra là định lượng, ‘bang công thức cụ thể các loại quang sai đó. Dựa trên các thông số cầu thành công thức do, danh giá sự ảnh hưởng của các yếu tổ tương ứng với các thông số đó như chiết suất Tôi trường, góc mở, góc khúc xạ. ảnh hướng như thế nảo đến các loại quang sai đó.

Để xây dựng được công thức tình toản các loại quang sai, một trong những plrương, pháp đã được sử dựng là coi quang sai là dạng sóng để xây đựng hàm đặc tính của quang sai từ đó suy ra công thức tính toán các loại quang sai đã nói ở trên. HAM DAC TINH CUA QUANG SAL Nhu đã biết quang sai của một hệ quang được trình bày trơng, phân l, là sai số giữa ảnh tao ra qua hệ quang so với ảnh lý tưởng, Nếu P là một vật điển và P° là ảnh Gaussian cua no thi tit cd cdc tia truyền qua góc mở đừng phải dị qua P”, Nêu ta chọn. một sóng xuất phát từ P khi đó trong không gian ảnh một phản của sóng này có tâm là P’. Điểu kiên này là một dương lượng và quang sai sẽ xuất hiệu khi hệ quang không, thỏa mãn được điều kiện này.

Lúc đó, cỏ thể tia vả sóng từ P sẽ hội tụ tại một điểm P”” nảo đỏ trên mản ảnh mả không phải là P', P'' là anh Gaussian của P nhung gan 2” Điều nay din dến một sự khác biệt hữu ích giữa các quang sai ảnh diễm, trong đó các tia trong không gian ảnh là không tổn tại và quang sai ảnh nơi một vật điểm tạo ra một ảnh điểm thực nhưng không đồng dang chính xác giữa vật và anh. Trong chương nảy, sẽ nghiên cứu mối quan hệ giữa quang sai séng vả quang sai ta, công thức cũn cáu loại quang sai Gọi P và P' là vật điểm và ảnh điểm qua một hệ quang, thông thuờng chỉ có đuy nhất một tia từ P tới P”, Hảm dặc tính diễm Hamilton V dược xác dụh là chiều dai 4) Aóo ảnh dạng vòng. @) Méo anh dang géi. Méo ah có xu hướng làm cho ảnh nhỏ hơn vật (trong tỉ lệ tao anb 1:1) goi la méo âm, còn méo ảnh có xu hưởng làm ánh lớn hơn vật gọi lả méo đương.

Quang sai sai sắc. Các thiết bị quang được sử dụng với chùm sảng có nhiều bước sóng kháe nhau. 'Miễn ánh sáng khả kiến có bước sóng A khác nhau truyền theo các hướng không giống, nhau, đân đến sai lệch về lạo ảnh điểm lý tưởng. Quang sai đo chủm tia nhiêu bước sóng tạo nẻn gọi lả quang sai sai sắc.

Do quang sai sai sắc mà vị tri va dé lon anh cũng, thay đổi. Quang sai sai sắc cũng được tính gân đúng theo quang sai bậc 3. Có hai loại quang sai sai sắc + Quang sai sai sắc vị trí. + Quang sai sai sắc đồ lớn ảnh, Kết ludn: Chương này giúp hiếu vẻ bản chất quang sai và nguyên nhân gây ra quang sai, đưa ra dinh nghữa một cách chúnh xác theo quan điểm ánh sáng lá dạng sóng, Dựa trên việc xác định được nguyên nhân gây ra quang sai chia quang sai ra làm các loại quang sai cơ bản khác nhau.

Một vấn đề đột ra là làm cách nào để định lượng được các lost quang sai này vả chủng ảnh hưởng ra sao đến quang sai toản phần. Vấn đẻ này sẽ dược giải quyêt trong chương sau. Pane of cit pupil Hình 1. Quang sai sóng và quang sai tỉa.

Trong cả hai trường hợp quang sai sóng và quang sai tia đều gây ra sự sai khác vẻ ảnh tạo ra từ một vật. Do vậy chúng ta có kết luận : Quang sai khi tạo ảnh qua một hệ quang chỉnh là sự sai khác ảnh của một vật tạo bởi hệ quang so với ảnh lý tưởng. Đây chính là định nghĩa vẻ quang sai Sau khi hiểu rõ bản chất của quang sai và nguyên nhân gây ra quang sai, dựa trên nguyên nhân gây ra quang sai chia quang sai thành các quang sai cơ bản như sau: 1. CÁC LOẠI QUANG SAI CƠ BẢN.1 Quang sai câu sai Đây là quang sai quan trọng nhat trong tat cã các quang sai cơ bản, là sự khác nhau về điểm hội tụ của các tia cân trục và các tia xa trục trong khi khúc xa hay phản xạ ánh sáng của các bẻ mặt cầu như trong hình vế.

TONG QUAN Trong tính toán, thiết kê hệ quang một trong những van de quan trọng là xác định sự ảnh của quang sai đến khả năng tạo ảnh của hệ quang. Do đó cân phải nghiên cứu sâu sắc và đây đủ vẻ các loại quang sai và nguyên nhân gây ra các loại quang sai đề từ đó có những phương pháp khử các loại quang sai hiệu quả. Đề thực hiện được mục tiêu. đỏ, cân phải cỏ phương pháp nghiên cửu quang sai của hệ quang ding đắn, dưới đây trình bảy hai phương pháp chỉnh nghiên cứu về quang sai 1.

CÁC PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CUU QUANG SAT. Phương pháp tỉa Đây là phương pháp xem xét chùm sáng tới các bề mặt chi tiết quang học là một chủm bao gồm rất nhiều tia sáng. Xét một hệ quang học đổi ximg tron xoay, Po’ , Py’ va P; tuong ứng là những điểm. giao với bê mặt pupil vào, pupil ra và mặt phẳng ảnh Gaussian của một tia xuất phát tir điểm vật Pạ.

Néu P," la anh Gaussian ctia Py thi véc to 8 = FFs la quang sai gay ra do tỉa trong sự tạo ảnh. Phương pháp sóng. Phương pháp nảy xem ảnh sáng la song. Sóng tới trên các bẻ mặt chỉ tiết quang, học thẻ hiện là các bê mặt sóng, Xét mét mat song W di qua tam 9; ctia pupil ra, két hop voi chim tao anh tir Py tai không gian ảnh như trong hình 1.

Tại nơi không có quang sai, W trùng với mặt câu S trên điểm ảnh Gaussian P” va W di qua ©,’. S được gọi là mặt câu chuẩn Gaussian. Q và Õ lần lượt là giao điểm của ØØ với S và W. Chiều đải quãng đường quang học ® = [ÖOÌ được gọi là quang sai của một đơn vị sóng tại Q hoặc đơn giãn là quang sai sóng và được xem là đương niều Ở và P nằm trên hai cạnh đối nhau so với Q của điểm B lả điểm P.

Khoảng cách AB và 4#. được liên hệ với nhau bởi độ phóng. đại dọc của hệ thông. Như vậy mặt phẳng ảnh là một mặt cong, nhưng trong thực tế các mặt phẳng ảnh đều là mặt phẳng nên ảnh thu được trên man ảnh phẳng thường mang.

sai số gọi là quang sai cong mặt ảnh. Quang sai loan thi. Là hiện tượng ảnh của một điểm qua hệ quang thay đổi hình dang tai mỗi vị trí trên mản ảnh như mô tả trên hình 1. Quang sai loạn thị 1.

Quang sai méo anh. Quang sai méo ảnh là sự thay đổi tỉ lệ tạo ảnh trên man anh. Vat diém ở các vị trí khác nhau tạo ảnh với tỉ lệ tạo ảnh không giống nhau, gây ra hiện tượng anh bi méo mỏ, kéo lệch như thê hiện trên hình vẽ 1. Quang sai méo ảnh.

a) Vật tạo ảnh. SIGPZTAL RAYS Xe Hinh 1. Quang sai coma. Quang sai cong mặt ẩnh(cong Pefzval) Quang sai gây ra do độ cong Petzval được tim thay trong khi khảo sát một hệ quang không loạn thị.

Điều kiện này được đảm bảo khi chủm sảng tới từ vật là cận trục và truyền dọc theo trục phụ. Mô tả như hình vẽ 1. Quang sai cong mat ảnh.