Giáo Trình Quang Học Phần 2: Hiện Tượng Nhiễu Xạ Ánh Sáng

Giáo trình quang học phần 2 của TS Nguyễn Bá Đức cung cấp kiến thức chuyên sâu về quang học, ứng dụng và lý thuyết quang học hiện đại.

Trường đại học

Trường Đại Học

Chuyên ngành

Quang Học

Người đăng

Ẩn danh

Thể loại

Giáo Trình
95
1
0

Phí lưu trữ

35 Point

Mục lục chi tiết

3. CHƯƠNG 3: NHIỄU XẠ ÁNH SÁNG

3.1. Hiện tượng nhiễu xạ

3.1. Nguyên lý Huygens - Fresnel

3.2. Biểu thức của dao động sáng tại một điểm

3.3. Nhiễu xạ của các sóng cầu

3.3.1. Phương pháp đới cầu Fresnel

3.3.2. Tính bán kính và diện tích đới cầu Fresnel

3.3.3. Tính chất đới cầu Fresnel và biên độ dao động sáng tại một điểm

3.3.4. Phương pháp giản đồ véc tơ

3.4. Nhiễu xạ do một nguồn điểm gây ra qua lỗ tròn

3.5. Nhiễu xạ qua một mặt chắn sáng tròn không trong suốt

3.6. Nhiễu xạ của sóng phẳng

3.6.1. Nhiễu xạ của ánh sáng qua khe hẹp

3.6.2. Xác định sự phân bố cường độ sáng

3.6.3. Điều kiện cực trị

3.6.4. Phép tính gần đúng và cực đại chính

Tóm tắt

I. Tổng quan về Giáo Trình Quang Học Phần 2 Nhiễu Xạ Ánh Sáng

Giáo trình Quang Học Phần 2 tập trung vào hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng, một trong những khía cạnh quan trọng của quang học sóng. Nhiễu xạ ánh sáng xảy ra khi ánh sáng gặp các chướng ngại vật, dẫn đến sự phân tán và biến đổi hướng của tia sáng. Hiện tượng này không thể giải thích bằng các định luật quang hình học thông thường mà cần dựa vào bản chất sóng của ánh sáng. Nội dung giáo trình sẽ giúp người học hiểu rõ hơn về nguyên lý Huygens và Fresnel, cũng như các ứng dụng thực tiễn của nhiễu xạ ánh sáng.

1.1. Khái niệm về Nhiễu Xạ Ánh Sáng

Nhiễu xạ ánh sáng là hiện tượng ánh sáng bị lệch khỏi phương truyền thẳng khi đi gần các chướng ngại vật. Hiện tượng này có thể quan sát được qua các thí nghiệm đơn giản, như việc chiếu ánh sáng qua lỗ nhỏ hoặc khe hẹp.

1.2. Tầm quan trọng của Nhiễu Xạ trong Quang Học

Nhiễu xạ ánh sáng không chỉ là một hiện tượng vật lý thú vị mà còn có nhiều ứng dụng trong công nghệ quang học, như trong thiết kế kính hiển vi và các thiết bị quang học khác.

II. Vấn đề và Thách thức trong Nghiên cứu Nhiễu Xạ Ánh Sáng

Nghiên cứu về nhiễu xạ ánh sáng gặp phải nhiều thách thức, đặc biệt là trong việc mô hình hóa và tính toán các hiện tượng phức tạp. Các yếu tố như kích thước của lỗ, bước sóng ánh sáng và khoảng cách giữa nguồn sáng và màn quan sát đều ảnh hưởng đến kết quả quan sát. Việc hiểu rõ các yếu tố này là rất quan trọng để có thể dự đoán chính xác các hiện tượng nhiễu xạ.

2.1. Các yếu tố ảnh hưởng đến Nhiễu Xạ

Kích thước của lỗ và bước sóng ánh sáng là hai yếu tố chính ảnh hưởng đến hiện tượng nhiễu xạ. Khi kích thước lỗ nhỏ hơn bước sóng, hiện tượng nhiễu xạ sẽ trở nên rõ rệt hơn.

2.2. Thách thức trong Mô hình hóa Nhiễu Xạ

Mô hình hóa hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng đòi hỏi các phương pháp toán học phức tạp, như nguyên lý Huygens-Fresnel, để tính toán biên độ và pha của sóng ánh sáng tại các điểm khác nhau.

III. Phương pháp Giải thích Nhiễu Xạ Ánh Sáng

Để giải thích hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng, nguyên lý Huygens-Fresnel được áp dụng. Nguyên lý này cho rằng mỗi điểm trên mặt sóng có thể coi là một nguồn sáng thứ cấp, phát ra sóng ánh sáng. Sự tổng hợp của các sóng này sẽ tạo ra các mẫu nhiễu xạ mà chúng ta quan sát được.

3.1. Nguyên lý Huygens và Fresnel

Nguyên lý Huygens cho phép giải thích hiện tượng nhiễu xạ một cách định tính, trong khi nguyên lý Fresnel cung cấp công thức để tính toán biên độ và pha của sóng tại các điểm khác nhau.

3.2. Phương pháp Tính toán Nhiễu Xạ

Các phương pháp tính toán như phương pháp đới cầu Fresnel giúp đơn giản hóa việc tính toán biên độ và cường độ ánh sáng tại các điểm quan sát, từ đó dự đoán được các mẫu nhiễu xạ.

IV. Ứng dụng Thực tiễn của Nhiễu Xạ Ánh Sáng

Hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng có nhiều ứng dụng trong thực tiễn, từ thiết kế kính hiển vi đến các công nghệ quang học tiên tiến. Việc hiểu rõ về nhiễu xạ giúp cải thiện hiệu suất của các thiết bị quang học và mở ra nhiều hướng nghiên cứu mới.

4.1. Ứng dụng trong Kính Hiển Vi

Nhiễu xạ ánh sáng là một yếu tố quan trọng trong thiết kế kính hiển vi, giúp tăng cường độ phân giải và khả năng quan sát các chi tiết nhỏ.

4.2. Ứng dụng trong Công nghệ Quang Học

Các công nghệ quang học hiện đại, như laser và cảm biến quang học, đều dựa vào nguyên lý nhiễu xạ để hoạt động hiệu quả.

V. Kết luận và Tương lai của Nghiên cứu Nhiễu Xạ Ánh Sáng

Nghiên cứu về nhiễu xạ ánh sáng không chỉ giúp hiểu rõ hơn về bản chất của ánh sáng mà còn mở ra nhiều cơ hội mới trong lĩnh vực quang học. Tương lai của nghiên cứu này hứa hẹn sẽ mang lại nhiều phát hiện thú vị và ứng dụng thực tiễn.

5.1. Tương lai của Nghiên cứu Quang Học

Nghiên cứu về nhiễu xạ ánh sáng sẽ tiếp tục phát triển, với nhiều ứng dụng mới trong công nghệ và khoa học vật liệu.

5.2. Những Thách thức trong Nghiên cứu Tương lai

Các nhà nghiên cứu sẽ phải đối mặt với nhiều thách thức trong việc mô hình hóa và tính toán các hiện tượng phức tạp liên quan đến nhiễu xạ ánh sáng.

15/07/2025

Trích đoạn nội dung tài liệu

Chương 3 Nhiễu xạ ánh sáng 3.1 Hiện tượng nhiễu xạ Trong quang hình học, chúng ta đã biết ánh sáng sẽ truyền thẳng trong môi trường trong suốt, đồng tính và đẳng hướng. Tuy nhiên, thực tế cho thấy rằng không phải trường hợp nào cũng đúng mà trong một số trường hợp tia sáng có thể lệch khỏi phương truyền. Hiện tượng tia sáng bị lệch khỏi phương truyền thẳng khi đi gần các chướng ngại vật gọi là hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng. Hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng không giải thích được bằng các định luật của quang hình học thông thường mà phải dựa vào bản chất sóng của ánh sáng.

Ta hãy xét một số ví dụ để chứng tỏ có thể xảv ra hiện tượng tia sáng có thể không truyền thẳng hay nói cách khác, tia sáng đã bị nhiễu xạ. 69 70 Thí nghiệm 1: Lấy m ột tấm bìa cản ánh sáng, đục thủng m ột lỗ rất nhỏ 0 trên tấm bìa và rọi vào đó m ột chùm ánh sáng phát ra từ m ột nguồn sáng s, qua thiâu kính L tới lỗ nhỏ trên tấm bìa (hình 3. Theo định luật truyền thẳng của ánh sáng thì ta chỉ có thể quan sát được ánh sáng trong hình nón AOB do các tia sáng đi qua m ép của thấu kính gây nên. Tuy nhiên nếu ta đặt m ắt tại điểm M ta vẫn nhận được ánh sáng từ lỗo của tấm bìa, chứng tỏ ánh sáng không còn truyền thẳng nữa, ánh sáng đã bị nhiễu xạ.1: Nhiễu xạ qua lỗ nhỏ Thí nghiệm 2: Đặt một dây kim loại m ảnh song song với m ột khe sáng, sau đoạn dây đật màn quan sát K song song với đoạn dây (3.

Bình thường, theo định luật truyền thẳng của ánh sáng thì miền AB bị che khuất và ánh sáng chỉ phân bố đều ngoài vùng AB. Tuy nhiên tại điểm M trong vùng tối AB vẫn quan sát được có ánh sáng và ở lân cận các điểm A, B lại thấy có cả vân tối và vân sáng. Rõ ràng, hiện tượng trên cũng 71 không tuân theo định luật truyền thẳng của ánh sáng. Người ta nói ánh sáng sáng đã bị nhiễu xạ.2: Nhiễu xạ qua vật chắn sáng 3.1 Nguyên lý Huygens - Fresnel Thực nghiệm đã chứng tỏ nguyên lý Huygens đúng cho cả sóng cơ học và các loại sóng khác, trong đó có sóng ánh sáng.

Theo Huygens, bất kỳ một điểm nào mà ánh sáng truyền đến đều trở thành nguồn sáng thứ cấp phát ánh sáng về trước nó. Nguyên lý Huygens giúp giải thích được sự lệch của tia sáng khỏi phương truyền thẳng (tương tự như sóng cơ học - hình 3.3), nghĩa là giải thích được hiện tượng nhiễu xạ một cách định tính. Tuy nhiên, để tính dao động sáng tại một điểm bất kỳ nào đó, ta cần phải tính tổng các nguồn dao động sáng trong đó có tính đến do các nguồn thứ cấp gây ra tại điểm đó. M uốn tính được ta phải biết cả biên độ và pha của các nguồn thứ cấp (nguồn ảo) và nguyên lý Huygens chưa tính đến các đại lượng này.3: Giải thích định tính hiện tượng nhiễu xạ bằtìg nguyên lý Huyghens Nhà vật lý học Fresnel đã xác định: Biên độ và pha của nguồn thứ cấp ¡à biên độ và p ha do nguồn thực gây ra tụi vị trí của nguồn thứ cấp.

N guyên lý này được gọi là nguyên lý Fresnel. Vì vậy, tổng hợp hai nguyên lý trên để tính dao động sáng tại một điểm bất kỳ gọi là nguyên lý Huygens - Fresnel. Đây là nguyên lý cơ bản của quang học sóng.2 Biểu thức của dao động sáng tại một điểm Giả sử tại điểm o có phương trình dao động sáng: Xo = acosu>t (3.1) Để viết biểu thức của dao động sáng tại điểm M bất kỳ (hình 3.4), s lấy một mặt bao quanh o,xét một diện tích nhỏ dS trên mặt kín s. Gọi các khoảng cách từ o tới dS là r 1 , khoảng cách từ M tới dS là r 2.

Theo nguyên lý H uygens thì các điểm trên dS đều nhận được ánh sáng từ o gửi tới do đó dS được coi là nguồn thứ cấp. Gọi biên độ sóng do nguồn o gây ra tại dS là <2 !, thời gian sóng ánh sáng truyền từ o tới dS là t\ = T \ / v thì theo nguyên lý Fresnel 73 ao động sáng tại dS sẽ được viết dạng: Xị = ai COScưự — t\) => Xi = ãi cosuj(t — — ) (3.4: Dí/O của lính sủng gây ra tại một điểm Dao động sáng do ncuồn thứ cấp dS gây ra tại M se là: x -2 = a ^ c o s u (4.3) Trong hệ thức trên, a 2 là biên độ sóng ánh sáng do dS gây ra tại điểm M. Như vậy, nếu dS càng lớn thì a 2 càng lớn, nếu r i , r -2 càng lớn thì a 2 càng nhỏ. Hơn nữa biên độ 02 còn phụ thuộc cả vào các góc 9, ớo, ta có thể đặt: A (ớ ,6 > o )đ S (3.4) A là một hệ số phụ thuộc ớ, ớ0.

Thực nghiệm đã chứng tỏ năng lượng sáng phát ra theo phương vuông góc với dS là mạnh nhất, do đó nếu d, ỚQ càng nhỏ thì hệ số A càng lớn. Dao động sáng tổng hợp tại M sẽ là: A ( 9 , 9 o) /ằ r i + 7 ’2 x= dx 2 = costư(í )íỉ5 (3.5) T\r 2 74 Tích phân trên tính cả trên toàn bộ mặt kín s. Việc tính toán tích phân trong biểu thức (3.5) là rất phức tạp vì biên độ và pha ban đầu của các sóng thứ cấp phụ thuộc vào sự phân bố các nguồn nguyên tố dS đối với điểm M, nhưng thực tế chúng ta chỉ cần tính cường độ sáng tại M, tức là chỉ cần biết biên độ dao động tổng hợp, nên trong một số trường hợp Fresnel đã đưa ra một số phương pháp giúp tính toán s đơn giản hon đó là chia mặt thành những đới đặc biệt gọi là phương pháp đới cầu Fresnel.2 Nhiễu xạ của các sóng cầu 3.1 Phương pháp đói cầu Fresnel Đới cầu Fresnel Lấy m ột nguồn sáng điểm o và điểm được chiếu sáng M. Theo nguyên lý H uygens-Fresnel, để thay nguồn sáng điểm obằng mặt đầu sóng s, ta vẽ m ột mặt cầu sbán kính R bao quanh o với R < OM như hình vẽ (3.

Giả sử OM cắt m ặt đầu sóng s lại điểm Mo, với M M 0 = d , ta chia đới bằng cách lấy điểm M làm tâm, vẽ những hình cầu có bán kính lần lượt cách nhau liên tiếp m ột khoảng ệ , tức là: M M 0 = d\ M M ị = d + ệ; M M 2 = d + 2 ệ; MMk = d + k ị với À là bước sóng ánh sáng của nguồn o phát ra. Các mặt cầu Mo, M ị, M 2 , M k -. chia mặt cầu s thành các đới gọi là đới cầu Fresnel.5: Đới cẩu Fresnel Ta hoàn toàn có thể tính được bán kính của các đới cầu và từ đó chứng minh được các đới cầu Fresnel đều có diện tích bằng nhau và xác định bởi hệ thức: AS = ^ - ăX ,3 .6 , Bán kính của đới cầu thứ k là: n = \ k R^+~d' f c = 1 ’ 2 ’ 3' - <3'7) Xây dựng hệ thức tính bán kính (3.7) và hệ thức tính diện tích (3.6) của đới cầu Fresnel - Tính bán kính của các đới cầu: Giả sử ta tính bán kính ngoài của đới thứ k. Đặt M'kI ĩ = Tk\ M qH = hk với O M ữ — OM'k = R , từ các tam giác vuông OM'k H và MM' k H 76 ta có: Tk = J W ^ [ R ^ h t f = J ( d + k ^ - ( d + h k)* Khai triển hai vế hệ thức trên và chú ý vì A < < d, đồng thòi với k không lớn ta có thể bỏ qua số hạng ta sẽ thu được hệ thức độ cao hk của chỏm cầu M'k M QMk'.

hk = k, Xd 2 (R + d) Với k nhỏ, bán kính Tk của đới cầu thứ k được coi gần đúng bằng hệ thứ c/ r k = 2R h k Thay thế hệ thức của hk vào hệ thức Tk ta sẽ thu được hệ thức (3.7) ở trên đê tính bán kính thứ k của đới thứ k: I XRd r t = V kRTd' * = 1. Như vậy bán kính của đới cầu tỉ lệ với căn bậc hai của các sô nguyên liên tiếp. - Tính diện tích của đới cầu: Diện tích của đới cầu được tính qua hiệu số giữa diện tích của chỏm cầu thứ k và thứ (k — 1). Dễ dàng thấy diện tích của chỏm cầu thứ nhất M'k M 0 M k là 2 n R h i và như vậy diện tích của chỏm cầu thứ k sẽ là: Sk = 2 ĩĩR h k = n k ——— A R -\- (ỉ Từ đó ta sẽ có diện tích cúa đới cầu thứ k sẽ là: AS, = s k - s*-! = TT-^-A K + a [k - (k - 1)1 J R+ d Từ biểu thức trên ta thấy rõ ràng A s k không phụ thuộc vào k, nghĩa là mọi đới cầu đều có diện tích bằng nhau và hệ thức trên cũng chính là hệ thức tính diện tích đới cầu (3.

Hệ thức tính sỏ đới cầu Fresnel Ta xét mật sóng cầu bị chắn bởi một màn chắn không trong suốt có lỗ tròn AB, bán kính Tk- Số đới Fresnel (n) chứa được trên lỗ được xác định từ hệ thức bán kính của đới cầu (3.7), ta có: r k ( R + d) n = ------------- XRd trong đó R là khoảng cách từ nguồn sáng o đến lỗ AB (điếm A/o - hình 3.5) và d là khoảng cách từ lỗ AB đến điểm M, n là số đới chứa trên lỗ tròn có bán kính Vk- Nếu A, R cho trước thì số đới n chỉ phụ thuộc vào r k và d. Nếu biết thêm bán kính lỗ tròn rk thì n sẽ tăng khi giảm d hoặc nếu giữ d không đổi thì n tăng khi T'k tăng. Tính chất đói cầu Fresnel và biên độ dao động sáng tại một điểm Theo nguyên lý Huygens mỗi đới cầu có thể coi là một nguồn th cấp gửi ánh sáng tới M. Gọi (Ik là biên độ dao động của ánh sáng do đới thứ k gây ra tại M, ta thấy khi k tăng lên thì các đới cầu càng xa điểm M, góc nghiêng 6 càng tãng, do đó theo hệ thức (3.4) thì biên độ sẽ giảm dần, vì thế dị > a 2 > a-í > .

Nội dung được bảo vệ bản quyền — Tải xuống đầy đủ