Ứng Dụng Kỹ Thuật Nén Scan Để Giảm Số Lượng Scan IO và Thời Gian Kiểm Tra

• Tác giả: Bui Xuan Viet Anh
• Người hướng dẫn: PhD. Nguyen Minh Son
• Trường học: Vietnam National University Ho Chi Minh City
• Chuyên ngành: Information Technology
• Đề tài: Giảm Thời Gian Kiểm Tra và Chi Phí Với Kỹ Thuật Nén Scan
• Loại tài liệu: Capstone Project
• Năm xuất bản: 2021
• Địa điểm: Ho Chi Minh City

• PREFACE
• THESIS SUMMARY
• 1. CHAPTER 1: INTRODUCTION ABOUT DESIGN FOR TESTABILITY (DFT) & CONCEPTS
• 1.1. Design for Testability
• 1.2. DFT Techniques
• 1.3. Scan Insertion flow
• 1.4. Concepts in the DFT method
• 2. EXPERIMENT ON DATA LAB “ORCA”
• 3. ORCA’S CONFIGURATION LOGIC
• 4. LIMITATIONS OF THE TOPIC AND DEVELOPMENT DIRECTION
• FIGURE LIST
• TABLE LIST
• LIST OF ABBREVIATION

I. Giới thiệu về Kỹ Thuật Nén Scan và Lợi Ích của Nó

Kỹ thuật nén scan là một phương pháp tiên tiến trong lĩnh vực kiểm tra mạch tích hợp, giúp giảm thời gian kiểm tra và chi phí. Với sự phát triển không ngừng của công nghệ, việc kiểm tra các mạch tích hợp ngày càng trở nên phức tạp. Kỹ thuật này cho phép nén dữ liệu kiểm tra, từ đó giảm thiểu khối lượng dữ liệu cần xử lý. Điều này không chỉ tiết kiệm thời gian mà còn giảm thiểu chi phí liên quan đến việc kiểm tra. Theo nghiên cứu của Bùi Xuân Việt Anh và Lê Trọng Trung, việc áp dụng kỹ thuật nén scan có thể giảm thời gian kiểm tra lên đến 90%.

1.1. Kỹ Thuật Nén Scan Là Gì

Kỹ thuật nén scan là một phương pháp sử dụng logic nén trong chuỗi scan để giảm khối lượng dữ liệu kiểm tra. Phương pháp này giúp tối ưu hóa quy trình kiểm tra, từ đó nâng cao hiệu suất kiểm tra.

1.2. Lợi Ích Của Kỹ Thuật Nén Scan

Việc áp dụng kỹ thuật nén scan mang lại nhiều lợi ích, bao gồm giảm chi phí kiểm tra, tăng tốc độ kiểm tra và cải thiện hiệu suất tổng thể của quy trình kiểm tra mạch tích hợp.

II. Thách Thức Trong Quy Trình Kiểm Tra Mạch Tích Hợp

Mặc dù kỹ thuật nén scan mang lại nhiều lợi ích, nhưng vẫn tồn tại một số thách thức trong quy trình kiểm tra. Các vấn đề như độ phức tạp của thiết kế, yêu cầu về độ chính xác cao và khả năng xử lý dữ liệu lớn là những yếu tố cần được xem xét. Đặc biệt, khi kích thước của các mạch tích hợp ngày càng lớn, việc kiểm tra trở nên khó khăn hơn. Theo nghiên cứu, tỷ lệ logic cần kiểm tra trên mỗi chân tăng lên đáng kể, dẫn đến khối lượng dữ liệu kiểm tra lớn hơn.

2.1. Độ Phức Tạp Của Thiết Kế

Độ phức tạp của thiết kế mạch tích hợp ngày càng tăng, điều này làm cho việc kiểm tra trở nên khó khăn hơn. Các kỹ sư cần phải tìm ra các phương pháp hiệu quả để kiểm tra các mạch phức tạp này.

2.2. Yêu Cầu Về Độ Chính Xác

Độ chính xác trong kiểm tra là yếu tố quan trọng. Bất kỳ sai sót nào trong quá trình kiểm tra có thể dẫn đến hậu quả nghiêm trọng, do đó cần có các phương pháp kiểm tra đáng tin cậy.

III. Phương Pháp Nén Scan Hiệu Quả Nhất

Để giảm thời gian kiểm tra và chi phí, việc áp dụng các phương pháp nén scan hiệu quả là rất cần thiết. Các phương pháp này bao gồm việc sử dụng codec nén, tối ưu hóa chuỗi scan và cải thiện quy trình kiểm tra. Nghiên cứu cho thấy rằng việc áp dụng các phương pháp này có thể giảm thời gian kiểm tra từ 9 đến 10 lần.

3.1. Sử Dụng Codec Nén

Codec nén giúp giảm kích thước dữ liệu kiểm tra bằng cách nén thông tin cần thiết. Việc này không chỉ tiết kiệm không gian lưu trữ mà còn tăng tốc độ xử lý dữ liệu.

3.2. Tối Ưu Hóa Chuỗi Scan

Tối ưu hóa chuỗi scan là một phương pháp quan trọng để cải thiện hiệu suất kiểm tra. Bằng cách giảm số lượng chuỗi scan, thời gian kiểm tra có thể được rút ngắn đáng kể.

IV. Ứng Dụng Thực Tiễn Của Kỹ Thuật Nén Scan

Kỹ thuật nén scan đã được áp dụng rộng rãi trong ngành công nghiệp vi mạch. Các công ty lớn đã sử dụng phương pháp này để cải thiện quy trình kiểm tra của họ. Kết quả cho thấy rằng việc áp dụng kỹ thuật nén scan không chỉ giúp tiết kiệm thời gian mà còn giảm chi phí sản xuất. Nghiên cứu của Bùi Xuân Việt Anh và Lê Trọng Trung đã chỉ ra rằng việc áp dụng kỹ thuật này có thể cải thiện đáng kể hiệu suất kiểm tra.

4.1. Các Công Ty Đang Áp Dụng Kỹ Thuật Nén Scan

Nhiều công ty trong ngành công nghiệp vi mạch đã áp dụng kỹ thuật nén scan để cải thiện quy trình kiểm tra. Điều này giúp họ tiết kiệm chi phí và thời gian.

4.2. Kết Quả Nghiên Cứu Về Kỹ Thuật Nén Scan

Kết quả nghiên cứu cho thấy rằng kỹ thuật nén scan có thể giảm thời gian kiểm tra lên đến 90%, từ đó cải thiện hiệu suất tổng thể của quy trình kiểm tra.

V. Kết Luận và Tương Lai Của Kỹ Thuật Nén Scan

Kỹ thuật nén scan đang trở thành một phần quan trọng trong quy trình kiểm tra mạch tích hợp. Với những lợi ích rõ ràng mà nó mang lại, kỹ thuật này sẽ tiếp tục phát triển và được cải tiến trong tương lai. Các nghiên cứu tiếp theo cần tập trung vào việc tối ưu hóa hơn nữa quy trình nén và kiểm tra để đáp ứng nhu cầu ngày càng cao của ngành công nghiệp.

5.1. Tương Lai Của Kỹ Thuật Nén Scan

Kỹ thuật nén scan sẽ tiếp tục phát triển và được áp dụng rộng rãi hơn trong ngành công nghiệp vi mạch. Các nghiên cứu mới sẽ giúp cải thiện hiệu suất và độ chính xác của quy trình kiểm tra.

5.2. Các Hướng Nghiên Cứu Tiếp Theo

Các hướng nghiên cứu tiếp theo cần tập trung vào việc phát triển các phương pháp nén mới và cải thiện quy trình kiểm tra để đáp ứng nhu cầu ngày càng cao của thị trường.