Created with Fabric.js 5.2.4
V
n
D
o
c
u
m
e
n
t
Đăng ký
Đăng nhập
Đăng ký
Đăng nhập
Ứng dụng kỹ thuật nén trong kiểm tra IC
Khóa luận tốt nghiệp ứng dụng scan compress để giảm số lượng scan io và test time
Khóa luận trình bày ứng dụng scan compress nhằm giảm số lượng scan IO và thời gian kiểm tra, tối ưu hóa quy trình làm việc hiệu quả.
Giảm Thời Gian Kiểm Tra và Chi Phí Với Kỹ Thuật Nén Scan
Khóa luận trình bày ứng dụng scan compress nhằm giảm số lượng scan IO và thời gian kiểm tra, tối ưu hóa quy trình làm việc hiệu quả.
Ngày đăng:
10/07/2025
Danh mục:
Công Nghệ Thông Tin
Kỹ thuật lập trình
61
0
0