Luận văn thạc sĩ: Xác định chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram dùng cho thuốc vi sai an toàn bằng phương pháp ICP-MS

• Tác giả: Hoàng Trọng Khiêm
• Người hướng dẫn: TS. Phạm Thị Ngọc Mai
• Trường học: Trường Đại Học Khoa Học Tự Nhiên
• Chuyên ngành: Hoá Phân Tích
• Đề tài: Xác Định Một Số Chỉ Tiêu Lượng Vết Trong Bột Vonfram Dùng Cho Thuốc Vi Sai An Toàn Bằng Phương Pháp ICP-MS
• Loại tài liệu: Luận Văn Thạc Sỹ Khoa Học
• Năm xuất bản: 2013
• Địa điểm: Hà Nội

Mục lục chi tiết

• LỜI NÓI ĐẦU
• 1. CHƯƠNG 1: TỔNG QUAN
• 1.1. Giới thiệu sơ lược về kim loại Vonfram bột dùng cho chế tạo thuốc cháy chậm vi sai an toàn
• 1.2. Sơ lược về kim loại Vonfram (W)
• 1.3. Tính chất vật lý, hóa học, ứng dụng và công nghệ sản xuất kim loại Vonfram bột
• 1.4. Ứng dụng của kim loại W và các hợp chất của nó
• 1.5. Công nghệ chế tạo Vonfram bột
• 1.6. Đặc điểm của các nguyên tố vi lượng trong bột W (As, Bi, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Mn, Pb, Sb, Mo)
• 1.6.1. Tính chất lý, hóa học
• 1.6.2. Sự tồn tại của các nguyên tố vi lượng có trong bột W trong thiên nhiên
• 1.7. Các phương pháp xác định các nguyên tố vi lượng trong bột W
• 1.7.1. Phương pháp phân tích trọng lượng
• 1.7.2. Phương pháp thể tích
• 1.7.3. Các phương pháp phân tích điện hóa
• 1.7.4. Phương pháp sắc ký - Kỹ thuật phân tích sắc kí lỏng hiệu năng cao (HPLC) xác định đồng thời
• 1.7.5. Các phương pháp phân tích quang
• 2. CHƯƠNG 2: THỰC NGHIỆM
• 2.1. Mục tiêu và nội dung nghiên cứu
• 2.1.1. Mục tiêu nghiên cứu
• 2.1.2. Nội dung nghiên cứu
• 2.2. Phương pháp phân tích phổ Plasma cảm ứng cao tần (ICP-MS)
• 2.2.1. Đặc điểm của phương pháp phân tích bằng ICP-MS
• 2.2.2. Bản chất của phổ ICP-MS
• 2.2.3. Nguyên tắc và sự xuất hiện phổ khối ICP-MS
• 2.2.4. Hệ trang bị của phép đo ICP-MS
• 2.2.5. Trang thiết bị, dụng cụ và hóa chất dùng trong nghiên cứu
• 3. CHƯƠNG 3: KẾT QUẢ THỰC NGHIỆM VÀ THẢO LUẬN
• 3.1. Khảo sát và chọn các thông số đo phổ ICP-MS (tối ưu theo các nguyên tố cần xác định)
• 3.2. Chọn các đồng vị phân tích (số khối, tỉ lệ đồng vị, phương trình hiệu chỉnh đối với các nguyên tố)
• 3.3. Khảo sát và chọn các điều kiện thực nghiệm đo phổ của 12 ion kim loại tạp chất trong W
• 3.4. Nghiên cứu ảnh hưởng của nền Vonfram đến phép xác định
• 3.5. Xác định khoảng tuyến tính và xây dựng đường chuẩn, giới hạn phát hiện, giới hạn định lượng
• 3.5.1. Khoảng tuyến tính của phép đo ICP-MS
• 3.5.2. Xây dựng đường chuẩn các nguyên tố
• 3.6. Khảo sát sai số và độ lặp lại của phép đo
• 3.7. Phân tích mẫu bột Vonfram của một số nước đang sản xuất
• 3.8. Quy trình phá mẫu
• 3.9. Đánh giá hiệu suất thu hồi theo hai quy trình phá mẫu W
• 3.10. Quy trình phân tích mẫu W bằng phương pháp ICP-MS
• TÀI LIỆU THAM KHẢO

Tóm tắt

I. Tổng quan về nghiên cứu chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram

Nghiên cứu chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram là một lĩnh vực quan trọng trong hóa phân tích, đặc biệt là trong sản xuất thuốc vi sai an toàn. Bột vonfram (W) được sử dụng rộng rãi trong nhiều ứng dụng công nghiệp, từ sản xuất dụng cụ cắt đến chế tạo thuốc cháy chậm. Việc xác định chính xác các chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram không chỉ giúp đảm bảo chất lượng sản phẩm mà còn bảo vệ sức khỏe con người và môi trường.

1.1. Giới thiệu về bột vonfram và ứng dụng của nó

Bột vonfram là một dạng kim loại có độ tinh khiết cao, được sử dụng trong nhiều lĩnh vực như sản xuất hợp kim, dụng cụ cắt, và đặc biệt là trong chế tạo thuốc vi sai an toàn. Với tính chất vật lý và hóa học đặc biệt, bột vonfram có khả năng chịu nhiệt và chống mài mòn tốt.

1.2. Tầm quan trọng của việc xác định chỉ tiêu lượng vết

Việc xác định chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram là cần thiết để đảm bảo chất lượng sản phẩm. Các tạp chất như As, Bi, Cd, và nhiều nguyên tố khác có thể ảnh hưởng đến tính an toàn và hiệu quả của thuốc vi sai. Do đó, việc phân tích chính xác là rất quan trọng.

II. Thách thức trong việc phân tích chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram

Phân tích chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram gặp nhiều thách thức do sự hiện diện của các tạp chất và yêu cầu về độ chính xác cao. Các phương pháp phân tích truyền thống thường không đáp ứng được yêu cầu này, dẫn đến việc cần thiết phải áp dụng các công nghệ hiện đại hơn.

2.1. Các phương pháp phân tích truyền thống và hạn chế của chúng

Các phương pháp phân tích truyền thống như chuẩn độ và tách chiết thường có độ chính xác thấp và không phát hiện được các thành phần có hàm lượng nhỏ. Điều này gây khó khăn trong việc đánh giá chất lượng bột vonfram.

2.2. Nhu cầu về công nghệ phân tích hiện đại

Công nghệ phân tích hiện đại như ICP-MS (Phổ plasma cảm ứng cao tần) đã được chứng minh là hiệu quả trong việc xác định các chỉ tiêu lượng vết. Việc áp dụng ICP-MS giúp nâng cao độ chính xác và giảm thời gian phân tích.

III. Phương pháp ICP MS trong phân tích bột vonfram

ICP-MS là một trong những phương pháp phân tích hiện đại nhất hiện nay, cho phép xác định nhanh chóng và chính xác các nguyên tố vi lượng trong bột vonfram. Phương pháp này sử dụng plasma để ion hóa mẫu và sau đó phân tích các ion bằng khối phổ.

3.1. Nguyên lý hoạt động của ICP MS

ICP-MS hoạt động dựa trên nguyên lý ion hóa mẫu trong plasma và phân tích các ion bằng khối phổ. Điều này cho phép phát hiện các nguyên tố với độ nhạy cao, ngay cả ở nồng độ rất thấp.

3.2. Lợi ích của việc sử dụng ICP MS

Sử dụng ICP-MS mang lại nhiều lợi ích như độ chính xác cao, khả năng phát hiện các nguyên tố vi lượng ở nồng độ thấp, và thời gian phân tích ngắn. Điều này rất quan trọng trong việc đảm bảo chất lượng bột vonfram.

IV. Kết quả nghiên cứu và ứng dụng thực tiễn

Kết quả nghiên cứu cho thấy rằng việc áp dụng phương pháp ICP-MS đã giúp xác định chính xác các chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram. Các kết quả này không chỉ có giá trị trong nghiên cứu mà còn có thể áp dụng trong sản xuất thực tiễn.

4.1. Kết quả phân tích các mẫu bột vonfram

Các mẫu bột vonfram được phân tích bằng ICP-MS cho thấy hàm lượng các tạp chất như As, Bi, Cd nằm trong giới hạn cho phép. Điều này chứng tỏ rằng bột vonfram đáp ứng được các tiêu chuẩn chất lượng cao.

4.2. Ứng dụng kết quả nghiên cứu trong sản xuất

Kết quả nghiên cứu có thể được áp dụng trong quy trình sản xuất bột vonfram, giúp cải thiện chất lượng sản phẩm và đảm bảo an toàn cho người sử dụng. Việc áp dụng công nghệ phân tích hiện đại sẽ giúp nâng cao năng lực cạnh tranh của sản phẩm trên thị trường.

V. Kết luận và triển vọng tương lai của nghiên cứu

Nghiên cứu chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram bằng phương pháp ICP-MS đã mở ra nhiều cơ hội mới cho ngành công nghiệp chế tạo thuốc vi sai an toàn. Việc áp dụng công nghệ hiện đại không chỉ nâng cao chất lượng sản phẩm mà còn bảo vệ sức khỏe con người và môi trường.

5.1. Tóm tắt kết quả nghiên cứu

Nghiên cứu đã xác định thành công các chỉ tiêu lượng vết trong bột vonfram, chứng minh tính khả thi của phương pháp ICP-MS trong phân tích hóa học. Kết quả này có thể được sử dụng làm cơ sở cho các nghiên cứu tiếp theo.

5.2. Triển vọng phát triển công nghệ phân tích trong tương lai

Triển vọng phát triển công nghệ phân tích trong tương lai sẽ tập trung vào việc cải thiện độ nhạy và độ chính xác của các phương pháp phân tích, đồng thời mở rộng ứng dụng của chúng trong nhiều lĩnh vực khác nhau.