Nghiên cứu nhiễu gia thoa điện từ EMI và sự tương thích điện từ trong RFID trên các board tốc độ cao

Trường đại học

Đại Học Bách Khoa - ĐHQG HCM

Người đăng

Ẩn danh

2014

124
0
0

Phí lưu trữ

30.000 VNĐ
Luận văn thạc sĩ kỹ thuật điện tử nghiên cứu nhiễu gia thoa điện từ emi trên các board tốc độ cao và sự tương thích điện từ trong rfid

Bạn đang xem trước tài liệu:

Luận văn thạc sĩ kỹ thuật điện tử nghiên cứu nhiễu gia thoa điện từ emi trên các board tốc độ cao và sự tương thích điện từ trong rfid

Tài liệu "Nghiên cứu nhiễu EMI và sự tương thích điện từ trong RFID cho board tốc độ cao" cung cấp cái nhìn sâu sắc về các vấn đề liên quan đến nhiễu điện từ (EMI) và sự tương thích điện từ (EMC) trong các hệ thống RFID, đặc biệt là trong bối cảnh các bo mạch hoạt động với tốc độ cao. Nghiên cứu này không chỉ phân tích các nguồn gốc gây ra nhiễu mà còn đề xuất các giải pháp để cải thiện hiệu suất và độ tin cậy của hệ thống RFID. Độc giả sẽ tìm thấy những thông tin quý giá về cách tối ưu hóa thiết kế và vận hành các thiết bị RFID, từ đó nâng cao khả năng ứng dụng trong thực tế.

Để mở rộng thêm kiến thức về lĩnh vực này, bạn có thể tham khảo tài liệu Thiết kế và đánh giá hiệu năng các giao thức truyền thông trong hệ thống RFID. Tài liệu này sẽ giúp bạn hiểu rõ hơn về các giao thức truyền thông và cách chúng ảnh hưởng đến hiệu suất của hệ thống RFID, từ đó cung cấp thêm góc nhìn cho việc nghiên cứu và phát triển trong lĩnh vực này.