Chương 1 TỔNG QUAN 1. Vật liệu khối Silic Silic là nguyên tố phổ biến trong tự nhiên chỉ đứng thứ hai sau Oxy, chiếm 27,5% tỉ trọng của lớp vỏ trái đất. Silic không tồn tại độc lập mà thường tồn tại trong tự nhiên dưới dạng hợp chất như silic-dioxide hoặc silicate. Cát, mã não, thạch anh, đá lửa, opan là những dạng tự nhiên của Silic dưới dạng ôxít.
Granit, amiăng, fenspat, đất sét, mica là những dạng khoáng chất Silicate. Trong số các hợp chất tồn tại trong tự nhiên thì cát thạch anh là nguồn nguyên liệu chủ yếu để sản xuất ra vật liệu Silic trong công nghệ bán dẫn. Cấu trúc tinh thể Si Vật liệu Silic có dạng cấu trúc lập phương tâm mặt với gốc gồm hai nguyên a a a tử, nếu một nguyên tử ở nút mạng (0,0,0) thì nguyên tử thứ hai có tọa độ ( , , ). 4 4 4 Đó chính là mạng kim cương (D) với nhóm không gian có ký hiệu quốc tế là (Fd3m) [1].
Hằng số mạng của Silic là a bằng 5,43A o, khoảng cách giữa hai nguyên 3 tử lân cận gần nhất là a = 2,43 A0 .Mô hình của ô cơ bản và một số mặt tinh thể lập phương quan trọng. 3 Luận văn thạc sĩ khoa học ||2013 Trong tinh thể Silic cấu trúc kim cương, các mặt phẳng tinh thể quan trọng là (100), (110) và (111) (hình 1. Hướng xếp khít nhất trong cấu trúc chính là đường chéo mặt lập phương. Do sự xếp chặt của các nguyên tử trên các mặt khác nhau là khác nhau nên năng lượng bề mặt của các mặt khác nhau cũng khác nhau.
Cấu trúc vùng năng lượng của Si Cấu trúc vùng năng lượng của Silic được tách ra thành hai vùng cho phép ngăn cách nhau bởi một vùng cấm. Vùng phía dưới chứa được 4N điện tử và điền đầy hoàn toàn, tạo nên vùng hóa trị của bán dẫn. Vùng phía trên cũng chứa được 4N điện tử nhưng trống hoàn toàn và trở thành vùng dẫn. Trong vùng hóa trị của Silic có các vùng con chồng lên nhau, các vùng con (hay là phân vùng) còn được gọi là các nhánh năng lượng.2 thể hiện cấu trúc vùng năng lượng của Silic với các vùng con theo hai phương <111> và <100>.
Sơ đồ vùng năng lượng của Si. Khoảng cách năng lượng giữa cực đại vùng hóa trị và cực tiểu vùng dẫn chính là bề rộng vùng cấm, đối với Silic độ rộng vùng cấm ∆Eg = 1,17 eV ở 0 K và ∆Eg = 1,12 eV ở 300K. Chúng ta thấy rằng cực đại vùng hóa trị (đỉnh vùng hóa trị) nằm ở tâm vùng Brillouin, trong khi cực tiểu vùng dẫn (đáy vùng dẫn) nằm ở một 4 Luận văn thạc sĩ khoa học ||2013 điểm trên hướng Γ∆X của vùng Brillouin, nghĩa là đỉnh vùng hóa trị và đáy vùng dẫn không nằm trên một điểm của vùng Brillouin, trong trường hợp này người ta gọi vùng cấm là vùng cấm xiên. Tính chất của dây nano Si 1.
Cấu trúc vùng năng lượng của dây nano Si Vật liệu khối Silic có cấu trúc vùng năng lượng dạng vùng cấm xiên, nhưng vật liệu nano Silic do hiệu ứng giam giữ lượng tử nên các trạng thái điện tử bị lượng tử hóa dẫn đến dây nano Silic có cấu trúc vùng năng lượng dạng vùng cấm thẳng [2]. Mô hình cấu trúc vùng năng lượng của dây nano Silic [110] đường kính 1,7nm [2]. Các mức năng lượng của lỗ trống trong vùng hóa trị xảy ra sự xáo trộn và chia nhỏ đáng kể của vùng lỗ trống. Trong vùng dẫn, độ uốn vùng dẫn giảm trung bình theo khối lượng hiệu dụng của hạt tải điện dọc theo trục của dây [2, 3].
Sử dụng mô hình gần đúng liên kết chặt để tính toán, cho thấy dây nano Silic có cấu trúc vùng cấm thẳng theo các định hướng mặt (100), (110) và (111) [3]. 5 Luận văn thạc sĩ khoa học ||2013 Hình 1. Cấu trúc vùng năng lượng của dây nano Silic có đường kính khoảng 20nm theo định hướng mặt (100), (110) và (111) [3]. Kích thước của dây nano Silic giảm xuống cỡ nano, dưới ảnh hưởng của hiệu ứng giam giữ lượng tử, các mức năng lượng liên tục bị lượng tử hóa tách thành những mức năng lượng riêng biệt có giá trị lớn hơn và do đó năng lượng tổng cộng của vùng cấm tăng.
Bề rộng vùng cấm của dây nano Silic tăng khi đường kính dây giảm và bề rộng vùng cấm theo các hướng tinh thể khác nhau là khác nhau [4]. Tính chất quang của dây nano Si Do vật liệu nano Silic có cấu trúc vùng cấm thẳng nên tính chất quang rất khác so với vật liệu Silic ở dạng khối. Kết quả phân tích phổ Raman của mẫu dây nano Silic có đường kính khoảng 10nm so với Silic khối cho thấy có sự dịch đỉnh phổ về phía số sóng nhỏ. Sự dịch phổ này được giải thích là do ảnh hưởng của các sai hỏng và hiệu ứng giam giữ lượng tử của các phonon quang bởi các biên dây nano Silic khi giảm kích thước của dây [6, 7, 8].
6 Luận văn thạc sĩ khoa học ||2013 Hình 1. Phổ Raman của dây nano Silic với bước sóng kích thích 514nm và thay đổi công suất nguồn laser[9]. Sự dịch đỉnh phổ tán xạ Raman của dây nano Silic còn phụ thuộc vào bước sóng kích thích và công suất nguồn laser. Với bước sóng kích thích 514nm và công suất nguồn laser từ 0,02 mW đến 2,50mW, đỉnh phổ dịch về phía tần số thấp khi công suốt nguồn laser tăng (hình 1.
Và dưới công suất nguồn laser 0,02mW, các bước sóng kích thích 514nm, 633nm và 785nm Silic khối có đỉnh tán xạ Raman đặc trưng tại 523cm-1, trong khi ở dây nano Silic đỉnh tán xạ tương ứng dịch về 519cm-1 như mô tả trên hình 1. Phổ Raman của dây nano Silic và Silic khối đo ở cùng nguồn công suất thấp (~0,02mW) sử dụng các bước sóng kích thích 514, 633 và 785nm [9]. 7 Luận văn thạc sĩ khoa học ||2013 Cho đến nay, phổ huỳnh quang của dây nano Silic đã được công bố bởi nhiều nhóm nghiên cứu khác nhau [7, 8, 10, 11, 12]. Một đặc điểm chung của nhiều công trình công bố đó là sự xuất hiện của một đỉnh phát xạ trong vùng đỏ với cực trị ~600-750nm và có độ rộng bán phổ lớn ~50-100nm.
Đỉnh phát xạ này có cường độ khá mạnh và dạng tương tự như phổ phát xạ của Silic xốp hay của các nano tinh thể Silic trong mạng nền SiO2 và thường được giải thích là do sự tái hợp của cặp điện tử – lỗ trống trong nano tinh thể Silic (lõi của dây nano). Sự dịch chuyển xanh của đỉnh phổ phát xạ từ vùng hồng ngoại (vùng cấm của Silic khối) về vùng đỏ được giải thích là do ảnh hưởng của hiệu ứng giam giữ lượng tử đối với các nano tinh thể kích thước ~ giá trị bán kính Bohr exciton của Silic (~4-5nm). Ngoài ra, tùy thuộc vào các mẫu khác nhau, công nghệ chế tạo khác nhau, phổ huỳnh quang của các cấu trúc một chiều Silic còn có thể có các đỉnh phát xạ nằm trong vùng năng lượng khá cao ~400-500nm. Các đỉnh phát xạ này thường được giải thích là do các sai hỏng trong lớp vỏ SiO 2 hoặc tại bề mặt tiếp xúc Si/SiO2 hình thành trong quá trình nuôi các cấu trúc một chiều này.
8 Luận văn thạc sĩ khoa học ||2013 Hình 1. Phổ huỳnh quang của dây nano Si: (a) trong vùng đỏ;(b) trong vùng xanh lục, khi đo ở các nhiệt độ khác nhau [10].7 là phổ huỳnh quang phụ thuộc nhiệt độ của dây nano Silic trong vùng ánh sáng đỏ (a) và vùng ánh sáng xanh (b) được công bố bởi Pham Van Tuan và các cộng sự. Các đỉnh phát quang này có cường độ khá mạnh khi đo ở nhiệt độ thấp và giảm khá nhanh khi tăng nhiệt độ đến nhiệt độ phòng. Nguyên nhân của sự dập tắt huỳnh quang theo nhiệt độ được giải thích là do sự ion hóa nhiệt của các điện tử và lỗ trống bị bẫy ở các tâm sai hỏng ở lớp vỏ SiO2 và ở bề mặt tiếp xúc giữa lớp vỏ SiO2 và lõi Silic [12].
9 Luận văn thạc sĩ khoa học ||2013 1. Sự hình thành dây nano Silic (SiNWs) 1. Sự hình thành hạt hợp kim Au-Si Nhiệt độ nóng chảy của Au và Silic lần lượt là 1064oC và 1414oC. Tuy nhiên, trên giản đồ pha Au-Si (hình 1.8) khi chúng hình thành hợp kim Au-Si ở điểm cùng tinh (eutectic) thì nhiệt độ nóng chảy của hợp kim rất thấp khoảng 363oC.
Giản đồ pha của hợp kim Au – Si Như vậy, tại điểm (a) hình thành hợp kim pha eutectic với thành phần về khối lượng Silic khoảng 2,8% tương ứng với thành phần nguyên tử Silic khoảng 18,6% thì nhiệt độ nóng chảy của hợp kim Au-Si là thấp nhất [13]. Việc trộn vàng với silic làm giảm nhiệt độ nóng chảy của hợp kim so với nhiệt độ nóng chảy của từng nguyên tố. Các hạt vàng Au tạo ra các giọt hợp kim ở nhiệt độ trên 363oC và khi nguồn hơi silic tới với động năng đủ bé sẽ hấp thụ vào các giọt hợp kim đạt trạng thái quá bão hòa silic trong hỗn hợp Au- Silic có nhiệt độ nóng chảy cao hơn nhiệt độ nóng chảy của silic trong hợp kim cùng tinh nên sẽ kết tủa bên ngoài giọt 10 Luận văn thạc sĩ khoa học ||2013 hợp kim quá bão hòa tại bề mặt phân cách giữa silic rắn và hợp kim dạng lỏng. Do đó, các giọt này được đẩy lên từ bề mặt đế.
Quá trình hình thành dây nano Silic theo cơ chế VLS [14]. Hình dáng của giọt hợp kim có thể biểu diễn bằng mô hình toán học, tuy nhiên các lực tác động thực sự trong quá trình mọc thì rất khó đo đạc thực nghiệm. Hình dạng của hạt xúc tác trên bề mặt tinh thể bị quyết định bởi sự cân bằng lực giữa sức căng bề mặt và sức căng của lớp phân cách rắn- lỏng. Khi dây bắt đầu mọc, sức căng dài có ảnh hưởng rất lớn đến diện tích tiếp xúc của xúc tác, nếu sức căng dài quá lớn thì xảy ra sự mọc của các hạt nano dạng các gò và quá trình ngừng lại.
Đường kính dây nano phụ thuộc vào tính chất của các giọt hợp kim. Sự mọc các dây kích thước nano đòi hỏi phải có các hạt kích thước nano trên bề mặt đế. Tuy nhiên, nếu nguồn hơi Silic tới giọt hợp kim Au-Si với động năng lớn thì sẽ không có đủ thời gian khuếch tán để cho giọt hợp kim này tiết ra khi đạt trạng thái quá bão hòa. Do đó điều quan trọng nhất trong quá trình ủ nhiệt và phún xạ đó là tạo được những giọt hợp kim xúc tác phân bố đồng đều trên bề mặt mẫu, đồng thời tạo được một lớp màng Silic lắng đọng bao quanh các giọt xúc tác trên.