Khảo Sát Một Số Tính Chất Của Linh Kiện Bán Dẫn Hiệu Ứng Trường Ga2O3 Dùng Phần Mềm Silvaco TCAD

Khảo sát tính chất linh kiện bán dẫn hiệu ứng trường GA203 bằng phần mềm mô phỏng Silvaco TCAD, cung cấp cái nhìn sâu sắc về hiệu suất và ứng dụng.

Chuyên ngành

Công Nghệ Vật Liệu

Người đăng

Ẩn danh

Thể loại

Khóa Luận Tốt Nghiệp

2022

62
4
0

Phí lưu trữ

30 Point

Mục lục chi tiết

LỜI CẢM ƠN

LỜI CAM ĐOAN

1. LỜI MỞ ĐẦU

2. DANH MỤC HÌNH ẢNH

3. DANH MỤC BẢNG

4. DANH MỤC CÁC CHỮ VIẾT TẮT

5. NỘI DUNG CHÍNH

5.1. Vật liệu bán dẫn độ rộng vùng cấm lớn và Gallium Oxide

5.2. Schottky Barrier Diode

5.3. Phương pháp phần tử hữu hạn

5.4. Chương trình mô phỏng Silvaco TCAD

5.5. Cơ sở, mục tiêu và ý nghĩa khoa học của đề tài

5.6. Chuẩn hóa cấu trúc mô phỏng, các đường đặc tuyến, trùng khớp với các báo cáo thực nghiệm

5.7. Mô phỏng điện trường đánh thủng của cấu trúc

5.8. Khảo sát ảnh hưởng của bề dày “drift layer”

5.9. Khảo sát sự ảnh hưởng của kim loại sử dụng làm điện cực

5.10. Mô phỏng điện trường đánh thủng của cấu trúc β-Ga2O3 Schottky Barrier Diode

6. HƯỚNG PHÁT TRIỂN CỦA ĐỀ TÀI

TÀI LIỆU THAM KHẢO

Tóm tắt

I. Tổng Quan Nghiên Cứu Tính Chất Linh Kiện Ga2O3 Với TCAD

Nghiên cứu linh kiện bán dẫn sử dụng vật liệu Ga2O3 đang thu hút sự quan tâm lớn nhờ tiềm năng ứng dụng trong các thiết bị điện tử công suất. Ga2O3 sở hữu độ rộng vùng cấm lớn, cho phép hoạt động ở điện áp cao và nhiệt độ khắc nghiệt. Việc mô phỏng các tính chất vật lý Ga2O3 bằng phần mềm Silvaco TCAD giúp tiết kiệm thời gian và chi phí so với thực nghiệm. Nghiên cứu này tập trung vào việc khảo sát các đặc tính điện của linh kiện bán dẫn Ga2O3 thông qua mô phỏng, từ đó mở ra hướng phát triển các thiết bị hiệu suất cao trong tương lai. Các kết quả mô phỏng sẽ được chuẩn hóa và so sánh với các báo cáo thực nghiệm để đảm bảo độ tin cậy. Mục tiêu là xây dựng một nền tảng vững chắc cho các nghiên cứu tiếp theo về Ga2O3.

1.1. Giới thiệu vật liệu Gallium Oxide Ga2O3 và ứng dụng

Gallium Oxide (Ga2O3) là một vật liệu bán dẫn mới nổi với độ rộng vùng cấm lớn (4.8 eV), hứa hẹn nhiều ứng dụng trong lĩnh vực điện tử công suất. So với các vật liệu truyền thống như Si, SiC hay GaN, Ga2O3 có điện trường đánh thủng cao hơn, cho phép chế tạo các thiết bị chịu được điện áp lớn hơn. Ứng dụng Ga2O3 bao gồm diode, MOSFET và các thiết bị chuyển mạch công suất cao. Nghiên cứu về Ga2O3 đang được đẩy mạnh trên toàn thế giới, với nhiều công trình công bố về các đặc tính và ứng dụng tiềm năng của vật liệu này. Việc sử dụng Silvaco TCAD để mô phỏng tính chất vật lý Ga2O3 giúp các nhà nghiên cứu hiểu rõ hơn về hoạt động của linh kiện và tối ưu hóa thiết kế.

1.2. Vai trò của Silvaco TCAD trong mô phỏng linh kiện bán dẫn

Silvaco TCAD là một công cụ mạnh mẽ để mô phỏng linh kiện bán dẫn, cho phép các nhà thiết kế dự đoán và tối ưu hóa hiệu suất của thiết bị trước khi chế tạo thực tế. Kỹ thuật mô phỏng TCAD giúp tiết kiệm thời gian và chi phí, đồng thời cung cấp thông tin chi tiết về các đặc tính điện, nhiệt và quang của linh kiện. Trong nghiên cứu về Ga2O3, Silvaco TCAD được sử dụng để phân tích đặc tuyến I-V, phân tích đặc tuyến C-V, mô phỏng điện trường đánh thủng và khảo sát ảnh hưởng của các thông số vật liệu đến hiệu suất của thiết bị. Việc chuẩn hóa kết quả mô phỏng với dữ liệu thực nghiệm là rất quan trọng để đảm bảo độ chính xác của mô hình.

II. Thách Thức Nghiên Cứu Đặc Tính Điện Ga2O3 Bằng TCAD

Mặc dù Silvaco TCAD là một công cụ mạnh mẽ, việc mô phỏng chính xác đặc tính điện Ga2O3 vẫn còn nhiều thách thức. Các mô hình vật lý Ga2O3 trong TCAD simulation cần được hiệu chỉnh và xác thực cẩn thận để đảm bảo độ tin cậy của kết quả. Các yếu tố như độ bền điện môi Ga2O3, độ linh động electron Ga2O3, và ảnh hưởng của tạp chất Ga2O3 cần được xem xét kỹ lưỡng. Ngoài ra, việc mô phỏng các hiệu ứng nhiệt và tần số cao cũng đòi hỏi các kỹ thuật và mô hình phức tạp hơn. Nghiên cứu này sẽ tập trung vào việc giải quyết một số thách thức này, nhằm nâng cao độ chính xác của mô phỏng và cung cấp thông tin hữu ích cho việc thiết kế thiết bị điện tử công suất sử dụng Ga2O3.

2.1. Khó khăn trong việc mô hình hóa vật liệu Ga2O3

Việc mô hình vật lý Ga2O3 trong TCAD simulation gặp nhiều khó khăn do thiếu hụt dữ liệu thực nghiệm và sự phức tạp của các quá trình vật lý xảy ra trong vật liệu. Các thông số như năng lượng vùng cấm Ga2O3, mật độ trạng thái Ga2O3, độ linh động electron Ga2O3độ linh động lỗ trống Ga2O3 cần được xác định chính xác để đảm bảo độ tin cậy của mô phỏng. Ngoài ra, ảnh hưởng của các tạp chất Ga2O3 và khuyết tật mạng tinh thể cũng cần được xem xét. Việc phát triển các mô hình vật lý Ga2O3 chính xác là một yêu cầu cấp thiết để nâng cao độ tin cậy của TCAD simulation.

2.2. Ảnh hưởng của các thông số mô phỏng đến kết quả

Kết quả TCAD simulation rất nhạy cảm với các thông số mô phỏng, bao gồm cấu trúc lưới, điều kiện biên và các tham số vật liệu. Việc lựa chọn cấu trúc lưới phù hợp là rất quan trọng để đảm bảo độ chính xác của kết quả, đặc biệt là trong các vùng có gradient điện trường lớn. Các điều kiện biên cũng cần được thiết lập cẩn thận để phản ánh chính xác điều kiện hoạt động của linh kiện. Ngoài ra, các tham số vật liệu như độ linh động electron Ga2O3, độ linh động lỗ trống Ga2O3, và độ bền điện môi Ga2O3 cần được hiệu chỉnh để phù hợp với dữ liệu thực nghiệm.

III. Phương Pháp Mô Phỏng Đặc Tính Linh Kiện Ga2O3 Với TCAD

Nghiên cứu này sử dụng Silvaco TCAD để mô phỏng linh kiện bán dẫn hiệu ứng trường Ga2O3. Quá trình mô phỏng bao gồm các bước: xây dựng cấu trúc linh kiện, thiết lập các thông số vật liệu, lựa chọn các mô hình vật lý phù hợp, và chạy mô phỏng. Kết quả mô phỏng được phân tích đặc tuyến I-Vphân tích đặc tuyến C-V để đánh giá hiệu suất của linh kiện. Các thông số quan trọng như điện áp đánh thủng Ga2O3, điện trở trên Ga2O3, và hiệu suất Ga2O3 được xác định từ kết quả mô phỏng. Nghiên cứu cũng khảo sát ảnh hưởng của các yếu tố như công thoát, độ dày lớp drift đến đặc tính điện của diode.

3.1. Xây dựng cấu trúc linh kiện Ga2O3 trong Silvaco TCAD

Bước đầu tiên trong quá trình mô phỏng là xây dựng cấu trúc linh kiện Ga2O3 trong Silvaco TCAD. Cấu trúc linh kiện bao gồm các lớp vật liệu khác nhau, chẳng hạn như lớp Ga2O3, lớp oxide cổng, và các điện cực kim loại. Các thông số hình học của linh kiện, chẳng hạn như độ dày lớp Ga2O3, chiều dài kênh, và chiều rộng kênh, cần được xác định chính xác. Silvaco TCAD cung cấp các công cụ để tạo ra các cấu trúc linh kiện phức tạp một cách dễ dàng. Cấu trúc lưới cũng cần được thiết lập phù hợp để đảm bảo độ chính xác của kết quả mô phỏng.

3.2. Thiết lập các thông số vật liệu và mô hình vật lý

Sau khi xây dựng cấu trúc linh kiện, cần thiết lập các thông số vật liệu và lựa chọn các mô hình vật lý phù hợp. Các thông số vật liệu bao gồm năng lượng vùng cấm Ga2O3, mật độ trạng thái Ga2O3, độ linh động electron Ga2O3, độ linh động lỗ trống Ga2O3, và độ bền điện môi Ga2O3. Các mô hình vật lý bao gồm các mô hình vận chuyển hạt tải, mô hình tái hợp, và mô hình ion hóa do va chạm. Việc lựa chọn các mô hình vật lý phù hợp là rất quan trọng để mô phỏng chính xác các đặc tính của linh kiện. Các thông số vật liệu cần được hiệu chỉnh để phù hợp với dữ liệu thực nghiệm.

3.3. Phân tích đặc tuyến I V và C V từ kết quả mô phỏng

Kết quả mô phỏng được phân tích đặc tuyến I-Vphân tích đặc tuyến C-V để đánh giá hiệu suất của linh kiện. Đặc tuyến I-V cho biết mối quan hệ giữa dòng điện và điện áp của linh kiện, trong khi đặc tuyến C-V cho biết mối quan hệ giữa điện dung và điện áp của linh kiện. Các thông số quan trọng như điện áp đánh thủng Ga2O3, điện trở trên Ga2O3, và hiệu suất Ga2O3 được xác định từ kết quả phân tích đặc tuyến I-V. Đặc tuyến C-V được sử dụng để xác định các thông số như điện dung cổng và mật độ trạng thái bề mặt.

IV. Kết Quả Mô Phỏng Ảnh Hưởng Bề Dày Drift Lên Ga2O3

Nghiên cứu khảo sát ảnh hưởng của bề dày lớp drift lên đặc tính điện Ga2O3. Kết quả cho thấy, bề dày lớp drift ảnh hưởng đáng kể đến điện áp đánh thủng Ga2O3điện trở trên Ga2O3. Bề dày lớp drift tối ưu giúp cân bằng giữa điện áp đánh thủng Ga2O3 cao và điện trở trên Ga2O3 thấp. Kết quả mô phỏng cung cấp thông tin hữu ích cho việc thiết kế thiết bị điện tử công suất sử dụng Ga2O3 với hiệu suất cao.

4.1. Mối quan hệ giữa bề dày lớp drift và điện áp đánh thủng

Kết quả mô phỏng cho thấy điện áp đánh thủng Ga2O3 tăng lên khi bề dày lớp drift tăng lên. Điều này là do lớp drift dày hơn giúp giảm điện trường tối đa trong linh kiện, từ đó trì hoãn quá trình đánh thủng. Tuy nhiên, việc tăng bề dày lớp drift quá mức có thể dẫn đến tăng điện trở trên Ga2O3, làm giảm hiệu suất của linh kiện. Do đó, cần tìm ra bề dày lớp drift tối ưu để đạt được điện áp đánh thủng Ga2O3 cao mà vẫn duy trì điện trở trên Ga2O3 thấp.

4.2. Ảnh hưởng của bề dày lớp drift đến điện trở trên của linh kiện

Điện trở trên Ga2O3 tăng lên khi bề dày lớp drift tăng lên. Điều này là do lớp drift dày hơn làm tăng khoảng cách mà các hạt tải phải di chuyển, từ đó làm tăng điện trở. Việc giảm bề dày lớp drift có thể giúp giảm điện trở trên Ga2O3, nhưng đồng thời cũng làm giảm điện áp đánh thủng Ga2O3. Do đó, cần cân bằng giữa hai yếu tố này để tối ưu hóa hiệu suất của linh kiện.

V. Mô Phỏng Ảnh Hưởng Kim Loại Điện Cực Đến Ga2O3

Nghiên cứu cũng khảo sát ảnh hưởng của kim loại sử dụng làm điện cực đến đặc tính điện Ga2O3. Kết quả cho thấy, công thoát của kim loại ảnh hưởng đến chiều cao rào thế Schottky và đặc tuyến I-V của diode. Việc lựa chọn kim loại phù hợp giúp tối ưu hóa hiệu suất của diode Schottky Diode Ga2O3. Các kim loại có công thoát cao thường tạo ra rào thế Schottky lớn hơn, dẫn đến dòng điện rò thấp hơn và hiệu suất cao hơn.

5.1. Tác động của công thoát kim loại đến chiều cao rào thế Schottky

Công thoát của kim loại ảnh hưởng trực tiếp đến chiều cao rào thế Schottky. Kim loại có công thoát cao hơn tạo ra rào thế Schottky lớn hơn, trong khi kim loại có công thoát thấp hơn tạo ra rào thế Schottky nhỏ hơn. Chiều cao rào thế Schottky ảnh hưởng đến dòng điện rò và điện áp thuận của diode. Việc lựa chọn kim loại phù hợp giúp điều chỉnh chiều cao rào thế Schottky để đạt được hiệu suất tối ưu.

5.2. So sánh đặc tuyến I V của diode với các kim loại khác nhau

Kết quả mô phỏng cho thấy đặc tuyến I-V của diode thay đổi đáng kể khi sử dụng các kim loại khác nhau làm điện cực. Diode sử dụng kim loại có công thoát cao thường có dòng điện rò thấp hơn và điện áp thuận cao hơn so với diode sử dụng kim loại có công thoát thấp. Việc so sánh đặc tuyến I-V của diode với các kim loại khác nhau giúp lựa chọn kim loại phù hợp để đạt được hiệu suất tối ưu.

VI. Kết Luận và Hướng Phát Triển Nghiên Cứu Ga2O3 Với TCAD

Nghiên cứu đã thành công trong việc mô phỏng linh kiện bán dẫn hiệu ứng trường Ga2O3 bằng Silvaco TCAD. Kết quả mô phỏng cung cấp thông tin hữu ích về ảnh hưởng của bề dày lớp drift và kim loại điện cực đến đặc tính điện Ga2O3. Nghiên cứu này mở ra hướng phát triển các thiết bị điện tử công suất sử dụng Ga2O3 với hiệu suất cao. Trong tương lai, cần tiếp tục nghiên cứu về các quá trình chế tạo Ga2O3, màng mỏng Ga2O3, và ảnh hưởng của các interface states Ga2O3 đến hiệu suất của linh kiện.

6.1. Tóm tắt kết quả và ý nghĩa của nghiên cứu

Nghiên cứu đã thành công trong việc mô phỏng linh kiện bán dẫn hiệu ứng trường Ga2O3 bằng Silvaco TCAD. Kết quả mô phỏng cung cấp thông tin hữu ích về ảnh hưởng của bề dày lớp drift và kim loại điện cực đến đặc tính điện Ga2O3. Nghiên cứu này mở ra hướng phát triển các thiết bị điện tử công suất sử dụng Ga2O3 với hiệu suất cao. Các kết quả này có ý nghĩa quan trọng trong việc thiết kế và tối ưu hóa các thiết bị Ga2O3 cho các ứng dụng khác nhau.

6.2. Đề xuất hướng nghiên cứu tiếp theo về Ga2O3 và TCAD

Trong tương lai, cần tiếp tục nghiên cứu về các quá trình chế tạo Ga2O3, màng mỏng Ga2O3, và ảnh hưởng của các interface states Ga2O3 đến hiệu suất của linh kiện. Ngoài ra, cần phát triển các mô hình vật lý Ga2O3 chính xác hơn trong Silvaco TCAD để nâng cao độ tin cậy của mô phỏng. Nghiên cứu cũng có thể mở rộng sang các cấu trúc linh kiện phức tạp hơn, chẳng hạn như MOSFET và IGBT sử dụng Ga2O3.

06/06/2025

Trích đoạn nội dung tài liệu

LỜI MỞ ĐẦU Trong những năm gần đây, vật liệu bán dẫn có độ rộng vùng cấm lớn như Silicon Carbide (SiC), Gallium Nitride (GaN), Aluminium Nitride (AlN) dành được nhiều sự quan tâm nghiên cứu của các nhà khoa học trên thế giới, bởi các tính chất ưu việt so với những loại bán dẫn truyền thống, chẳng hạn là dùng trong lĩnh vực điện tử công suất, bán dẫn độ rộng vùng cấm lớn này sẽ chịu đựng được điện trường lớn, hoạt động ở các điều kiện khắc nghiệt tốt hơn bình thường. Gallium Oxide (Ga2O3) là một trong số đó, với giá trị năng lượng vùng cấm và hằng số điện môi lần lượt là 4.8 eV và 10, điện trường đánh thủng được ước tính vào khoảng 8 MV/Cm. Đây được xem là loại vật liệu tiềm năng cho nghiên cứu, có khả năng chế tạo được các thiết bị điện tử công suất mà chịu được hiệu điện thế từ vài trăm cho đến hàng nghìn vôn. Và nhiều bài báo, tạp chí khoa học lớn trên thế giới đã công bố những kết quả thực nghiệm về Gallium Oxide, dùng trong các cấu trúc Diode, MOSFET… kết quả cực kỳ ấn tượng.

Sử dụng chương trình tính toán, mô phỏng linh kiện là một công nghệ trong lĩnh vực bán dẫn, việc này có nhiều ưu điểm như tiết kiệm thời gian, chi phí cho nghiên cứu và chế tạo thực nghiệm, khảo sát được các tính chất đặc biệt như: phân bố điện trường, vị trí có khả năng bị đánh thủng của linh kiện, chiều hướng của dòng điện khi thiết bị hoạt động… từ kết quả đạt được thuận lợi cho việc chế tạo thực nghiệm, đưa ra những cải tiến về cấu trúc nhầm tăng hiệu quả sau này. Từ những cơ sở trên, tôi quyết định thực hiện đề tài: “Bước đầu khảo sát một số tính chất của linh kiện bán dẫn hiệu ứng trường Ga2O3 dùng phần mềm mô phỏng Silvaco TCAD”. Với nghiên cứu này, tôi chú trọng đến việc chuẩn hóa được thông số của vật liệu Ga2O3, khảo sát các tính chất về điện của linh kiện bằng công nghệ mô phỏng, tạo tiền đề cho các dự án mới trong tương lai. 9 Nội dung nghiên cứu gồm các vấn đề sau: 1.

Sử dụng chương trình TCAD mô phỏng cấu trúc linh kiện. Chuẩn hóa cấu trúc mô phỏng, các đường đặc tuyến, trùng khớp với báo cáo thực nghiệm. Khảo sát sự ảnh hưởng của các yếu tố (công thoát, độ dày lớp drift) lên đặc tính điện của Diode. Mô phỏng điện trường đánh thủng của linh kiện Gallium Oxide Schottky Barrier Diode.

Vật liệu bán dẫn độ rộng vùng cấm lớn và Gallium Oxide Linh kiện điện tử công suất là các thiết bị bán dẫn, được sử dụng rộng rãi trong nhiều ngành như: năng lượng tái tạo, thiết bị lưu trữ điện, viễn thông liên lạc, công nghệ robot và trong việc chuyển đổi điện năng. Theo ước tính, có hơn 50% các thiết bị điện trên thế giới được điều khiển bởi các linh kiện điện tử công suất [1]. Việc sử dụng những thiết bị bán dẫn có công suất lớn giúp cải thiện hiệu quả làm việc và góp phần tiết kiệm các nguồn nhiên liệu đang dần khan hiếm như than dầu mỏ… và cuối cùng là giảm thiểu tác động xấu đến môi trường sống. Các ứng dụng này yêu cầu công suất lớn, các linh kiện phải chịu được điện áp cao, hoạt động ổn định trong điều kiện khắt nghiệt hơn bình thường.

Vì những lý do trên, yêu cầu đối với những linh kiện bán dẫn công suất càng ngày càng cao và có nhiều ý nghĩa quan trọng hơn. Vật liệu bán dẫn có độ rộng vùng cấm lớn cũng có nhiều loại, chẳng hạn như Silicon Carbide (SiC), Gallium Nitride (GaN)… ưu điểm của chúng là hiệu quả tốt trong các thiết bị hoạt động ở hiệu điện thế cao, nhất là điện trường đánh thủng đạt được giá trị lớn. So với những vật liệu bán dẫn truyền thống, hiệu điện thế chịu được thấp, thì các vật liệu độ rộng vùng cấm lớn này sẽ chịu được tải lớn hơn, khó bị phá vỡ hơn nếu cùng cấu trúc và kích thước so với vật liệu bán dẫn độ rộng vùng cấm nhỏ [2] [3]. Bán dẫn độ rộng vùng cấm lớn cho phép linh kiện hoạt động ở nhiệt độ cao.

Silicon là loại bán dẫn truyền thống có nhiều ứng dụng, tuy nhiên độ rộng vùng cấm của loại vật liệu này chỉ khoảng 1.1 eV, điều này có nghĩa các linh kiện làm bằng vật liệu này dễ dàng bị kích thích hoạt động bởi các yếu tố như nhiệt độ, năng lượng điện, dẫn đến việc khó khăn trong kiểm soát, điều khiển thiết bị điện. So sánh giữa Si và các vật liệu bán dẫn 4H-SiC và GaN có năng lượng vùng cấm lớn vào khoảng 3-4 eV, những thiết bị sử dụng bán dẫn năng lượng vùng cấm lớn sẽ hoạt động được ở các nhiệt độ cao hơn, thông thường là lớn hơn 300oC. 11 Bên cạnh GaN và SiC, Ga2O3 là vật liệu bán dẫn độ rộng vùng cấm lớn mới nổi lên. Đã thu hút sự quan tâm đáng kể trong nhiều năm gần đây.

Tiếp tục so sánh về độ rộng vùng cấm, Gallium Oxide có giá trị 4.9 eV còn lớn hơn cả Silicon Carbide và Gallium Nitride. Do đó điện trường đánh thủng của loại vật liệu này được tính toán vào ngưỡng 8 MV/Cm, hơn gấp ba lần nếu so với SiC 2.5 MV/Cm và hơn hai lần so với GaN 3. Biểu đồ số lượng các công trình nghiên cứu có liên quan đến vật liệu Gallium Oxide trong những năm gần đây [6]. Hơn nữa việc tổng hợp -Ga2O3 đơn tinh thể đã được thực hiện thành công bằng phương pháp edge-defined film-fed growth (EFG) [7].

Hiện tại -Ga2O3, cũng có thể pha tạp có kiểm soát loại n với các chất cho như Si, Ge, Sn [8]. 12 Những tính chất cơ bản của Silicon và các vật liệu bán dẫn năng lượng vùng cấm lớn được liệt kê trong bảng 1. Tính chất Silicon 4H-SiC GaN -Ga2O3 Năng lượng vùng 1.8 cấm (eV) Hằng số điện môi 11.0 Ái lực điện tử (eV) 4.0 Mật độ trạng thái ở 2.72*1018 vùng dẫn (Cm-3) Mật độ trạng thái ở 1.72*1018 vùng hóa trị (Cm-3) Điện trường đánh 0. So sánh các tính chất của vật liệu.

Trong báo cáo này, tôi sẽ tập trung vào dạng thù hình -Ga2O3, theo các nghiên cứu đã được công bố thì đây là cấu trúc ổn định và bền với nhiệt nhất trong năm dạng thù hình là , , ,  và  đang có [12]. Schottky Barrier Diode Trước khi đi vào tìm hiểu sự tương tác của tiếp xúc kim loại và chất bán dẫn ta cần khái quát về khái niệm công thoát (work function - WF). Công thoát của một vật liệu được hiểu cơ bản là lượng năng lượng cần thiết để kích thích một electron ở mức thế hóa học có đủ năng lượng để thoát ra đến vô cùng và đến đó với mức năng lượng bằng không [13]. 13 Albert Einstein là người đầu tiên đưa ra khái niệm công thoát trong nghiên cứu của ông về hiệu ứng quang điện ở kim loại.

Và cũng chính công trình nghiên cứu này, chứ không phải thuyết tương đối đã giúp Einstein đạt được giải Nobel năm 1921 [14]. Khi một kim loại và một chất bán dẫn được kết nối với nhau, có thể dẫn đến hai kiểu tiếp xúc, tùy thuộc vào kim loại và chất bán dẫn được sử dụng. Mối nối có thể được chỉnh lưu, chỉ cho phép dòng điện đi qua theo một chiều hướng. Ngoài ra nó có thể là Ohmic, trong trường hợp này dòng điện có thể đi theo một trong hai hướng.

Trong báo cáo này sẽ thảo luận về tiếp điểm chỉnh lưu, gọi là Schottky Barrier Diode [14]. Trạng thái của kim loại và bán dẫn loại n khi chưa tiếp xúc với nhau [14]. Hình bên trên thể hiên trạng thái của kim loại và bán dẫn pha tạp loại n khi chưa hình thành tiếp xúc, M và S ký hiệu cho đại lượng công thoát lần lượt của kim loại và vật liệu bán dẫn. Đường nét đứt ở trên thể hiện cho mức năng lượng bằng không ở vô cùng.

Thế hóa học của của chất bán dẫn được biểu diễn bằng đường nét đứt có ký hiệu . Với kim loại thế hóa học được coi là mức năng lượng Fermi, và được ký hiệu là EF. Sự 14 chênh lệch năng lượng giữa đáy của vùng dẫn và vô cùng được gọi là ái lực điện tử của vật liệu bán dẫn thể hiện bằng dấu . Khi tiếp xúc được hình thành, các electron có thể hạ thấp năng lượng của mình bằng cách đổ từ vùng dẫn của chất bán dẫn sang kim loại [14].

Kết quả của quá trình khuếch tán là sự biến dạng cấu trúc vùng năng lượng được mô tả bằng các hình tiếp theo. Việc khuếch tán hạt tải sẽ xảy ra liên tục cho đến khi nào thế hóa học ở chất bán dẫn thẳng hàng với mức Fermi của kim loại [14]. Vì nồng độ hạt tải khác nhau ở phía bán dẫn loại n và kim loại, sự khuếch tán của chất mang điện qua bề mặt phân cách sẽ ngược lại so với gradient nồng độ và tuân theo định luật đầu tiên của Fick: J = -DC(r) [15] trong đó J là thông lượng, D là hệ số khuếch tán và C(r) nồng độ là một hàm theo vị trí. Cấu trúc vùng năng lượng bị biến dạng, hình thành rào thế mà các điện tử phải vượt qua rào thế này để đi từ bán dẫn đến kim loại [14].

Ở một nhiệt độ nhất định, sẽ có các electron trong kim loại có thể bị kích thích nhiệt đủ để vượt qua rào thế và khuếch tán vào vùng dẫn của chất bán dẫn. Tương tự như vậy, sẽ có các electron trong vùng dẫn sẽ có đủ nhiệt năng để khuếch tán từ chất bán dẫn vào kim loại. Ở trạng thái cân bằng, các dòng điện này phải bằng nhau. Nếu không, sự tích điện sẽ xảy ra ở bề mặt phân cách và cấu trúc dải sẽ bị biến dạng cho đến khi dòng khuếch tán của các electron giống hệt nhau theo cả hai hướng.

Rào cản thế cao hơn gặp phải trong quá trình di chuyển từ kim loại sang chất bán dẫn được bù đắp bởi số lượng lớn hơn nhiều electron tự do trong kim loại. Ở trạng thái cân bằng, vùng lân cận tiếp xúc kim loại và bán dẫn được gọi là vùng nghèo (Depletion layer) [14]. Vùng nghèo này hoạt động giống như một rào thế hóa học. Chiều cao của rào thế này đối với tiếp xúc kim loại với bán dẫn pha tạp loại n được tính theo công thức: B = S -  [13] Giá trị B này cũng bằng tổng độ dịch chuyển xuống của vùng dẫn trong chất bán dẫn ở xa tiếp xúc kim loại và vật liệu bán dẫn.

Nội dung được bảo vệ bản quyền — Tải xuống đầy đủ