Luận văn thạc sĩ: Tối ưu hóa kiểm thử phần mềm qua sinh mẫu và khoanh vùng lỗi

Trường đại học

Đại học Quốc gia TP. HCM

Chuyên ngành

Khoa học máy tính

Người đăng

Ẩn danh

2014

74
1
0

Phí lưu trữ

30.000 VNĐ
Luận văn thạc sĩ khoa học máy tính kết hợp các phương pháp sinh mẫu thử tự động và khoanh vùng lỗi để tăng hiệu quả trong quá trình kiểm thử phần mềm

Bạn đang xem trước tài liệu:

Luận văn thạc sĩ khoa học máy tính kết hợp các phương pháp sinh mẫu thử tự động và khoanh vùng lỗi để tăng hiệu quả trong quá trình kiểm thử phần mềm

Luận văn thạc sĩ với tiêu đề "Tối ưu hóa kiểm thử phần mềm qua sinh mẫu và khoanh vùng lỗi" của tác giả Phạm Hồng Long, được thực hiện dưới sự hướng dẫn của PGS. Quản Thành Thơ và các giảng viên khác tại Đại học Quốc gia TP. HCM, tập trung vào việc kết hợp các phương pháp sinh mẫu thử tự động và khoanh vùng lỗi trong kiểm thử phần mềm. Bài viết này không chỉ đề cập đến các kỹ thuật kiểm thử hiện đại mà còn nhấn mạnh tầm quan trọng của việc tối ưu hóa quy trình kiểm thử, giúp nâng cao chất lượng phần mềm và giảm thiểu thời gian phát triển. Độc giả sẽ tìm thấy giá trị trong việc áp dụng các phương pháp này để cải thiện hiệu quả kiểm thử trong các dự án phần mềm của mình.

Nếu bạn quan tâm đến các khía cạnh khác trong lĩnh vực kiểm thử phần mềm và ứng dụng công nghệ thông tin, bạn có thể tham khảo thêm các bài viết liên quan như "Các Kỹ Thuật Kiểm Thử Dòng Dữ Liệu Tĩnh Trong Luận Văn Thạc Sĩ Kỹ Thuật Phần Mềm""Nghiên cứu ứng dụng mô hình ngôn ngữ lớn trong gỡ lỗi phần mềm". Những bài viết này sẽ cung cấp cho bạn cái nhìn sâu sắc hơn về các phương pháp và công nghệ hiện đại trong lĩnh vực kiểm thử phần mềm.